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原文传递假冒翻新塑封器件识别方法

专利名称：	假冒翻新塑封器件识别方法
摘要：	本发明提供一种假冒翻新塑封器件识别方法，包括以下步骤：S1：运用显微镜放大检查器件的外观物理特征；S2：利用X射线检查器件的内部物理特征；S3：通过声学扫描显微镜检查器件的内部物理特征；S4：通过激光开封与酸开封结合的方式去除器件的包封料；S5：运用显微镜对器件的内部物理特征进行微观检查；S6：对器件内部的键合引线材料进行能谱分析；S7：运用扫描电子显微镜检查芯片结构特征；S8：判断器件的外观物理特征、内部物理特征、键合引线材料、芯片结构特征是否与原厂器件一致，如果其中任意一项或多项不一致，则判断该器件为假冒翻新器件。本发明能够有效识别假冒翻新塑封器件，防止或降低假冒翻新器件在整机中使用所带来的可靠性风险。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
发明人：	周帅;王斌;黄煜华;陈炎涛;吴仕煌;雷胡敏;陈海鑫
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810695019.0
公开号：	CN108844958A
代理机构：	北京市隆安律师事务所 11323
代理人：	付建军
分类号：	G01N21/84(2006.01)I;G01N23/227(2018.01)I;G01N23/22(2018.01)I;G01N23/2206(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N23;G01N21/84;G01N23/227;G01N23/22;G01N23/2206
申请人地址：	510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号
主权项：	1.一种假冒翻新塑封器件识别方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：运用显微镜放大检查器件的外观物理特征；S2：利用X射线检查器件的内部物理特征；S3：通过声学扫描显微镜检查器件的内部物理特征；S4：通过激光开封与酸开封结合的方式去除器件的包封料；S5：运用显微镜对器件的内部物理特征进行微观检查；S6：对器件内部的键合引线材料进行能谱分析；S7：运用扫描电子显微镜检查芯片结构特征；S8：判断器件的外观物理特征、内部物理特征、键合引线材料、芯片结构特征是否与原厂器件一致，如果其中任意一项或多项不一致，则判断该器件为假冒翻新器件。
所属类别：	发明专利