专利名称: |
一种塑封器件分层缺陷检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种塑封器件分层缺陷检测方法在原有塑封器件批量超声检测前增加塑封器件采购后的预处理程序,用于去除塑封器件内部吸收水分,并通过超声扫描检测图像前后对比确定是否为吸湿塑封器件,进而通过分层缺陷变化的时间来确定每次可声扫器件只数,将塑封器件进行分批声扫,该方法可以在保证检测准确率的同时提高检测效率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
航天科工防御技术研究试验中心 |
发明人: |
冯慧;王坦 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810064419.1 |
公开号: |
CN108375632A |
代理机构: |
北京风雅颂专利代理有限公司 11403 |
代理人: |
李莎;李弘 |
分类号: |
G01N29/06(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;B07C5/34(2006.01)I;G;B;G01;B07;G01N;B07C;G01N29;G01N1;B07C5;G01N29/06;G01N29/04;G01N1/28;B07C5/34 |
申请人地址: |
100085 北京市海淀区永定路50号 |
主权项: |
1.一种塑封器件分层缺陷检测方法,其特征在于,包括步骤:塑封器件干燥预处理;获得该类型合格塑封器件的声学扫描检测图像;随机抽取多只待检塑封器件置于去离子水中,进行超声扫描;若所述超声扫描过程中检测到所述待检塑封器件存在分层现象;则记录所述分层现象的位置和面积,并保持所述待检塑封器件继续置于去离子水中,间隔第一预定时间后再次进行超声扫描;若所述待检塑封器件分层现象的位置或面积发生了变化,则判定该批次待检塑封器件为快速吸湿塑封器件;随机抽取多只待检塑封器件放置在去离子水中进行超声扫描,之后每隔第二预定时间进行一次扫描,得到所述待检塑封器件的分层位置和面积第一次发生变化的时间,为该批次待检塑封器件的进水时间;其中,所述第二预定时间远小于第一预定时间;在所述进水的时间内,将待测塑封器件分批进行超声检测测试,并剔除塑封分层缺陷器件。 |
所属类别: |
发明专利 |