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一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法
| 专利名称： | 一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种透射比反射比测量仪的检测校准装置和方法，包括步骤：S1、移动内部覆盖超黑吸光膜的盖子进行测量获取第一测量数据；S2、移动内部覆盖全反射镜面膜的盖子进行测量获取第二测量数据；S3、移动内部覆盖定向反射晶体膜的盖子进行测量获取第三测量数据；S4、计算出与目标值的比率；然后根据上述测量数据调整所述测量仪的透射信号数字增益放大电路和反射信号数字增益放大电路的比例参数；S5、逐一移动多个固定标定值的玻璃至测量仪正前方进行测量获取测量仪的第四测量数据；依次将标定值与第四测量数据进行比较生成比值数据；将所述比值数据根据所述比例参数配置到所述测量仪中，拟合成一条校准曲线；S6、检验校准准确度，结束校准。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 宁波纳智微光电科技有限公司 |
| 发明人： | 丁海波;章湖;杨绍光 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810436377.X |
| 公开号： | CN108548797A |
| 分类号： | G01N21/59(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/59;G01N21/55 |
| 申请人地址： | 315200 浙江省宁波市镇海区骆驼街道文成西路南侧 |
| 主权项： | 1.一种透射比反射比测量仪的检测校准方法，其特征在于，包括步骤：S1、移动内部覆盖超黑吸光膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第一测量数据；S2、移动内部覆盖全反射镜面膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第二测量数据；S3、移动内部覆盖定向反射晶体膜的盖子至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第三测量数据；S4、获取所述第一测量数据、所述第二测量数据和所述第三测量数据，并计算出与目标值的比率；然后根据上述测量数据调整所述测量仪的透射信号数字增益放大电路和反射信号数字增益放大电路的比例参数；S5、逐一移动多个固定标定值的玻璃至所述测量仪正前方进行测量获取所述测量仪的第四测量数据；依次将所述标定值与所述第四测量数据进行比较生成比值数据；将所述比值数据根据所述比例参数配置到所述测量仪中，拟合成一条校准曲线；S6、检验校准准确度，结束校准。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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