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用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置
| 专利名称： | 用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置；包括发射装置、被测样品、参考样品、接收装置和平移机构，且发射装置和接收装置位于所述被测样品和/或参考样品的同一侧，所述发射装置和接收装置的位置可互换；发射装置包括光源、第一狭缝和透镜，所述接收装置包括积分球、第二狭缝和驱动机构；驱动机构用于驱动接收装置中的积分球移动，或者第二狭缝移动，或者发射装置中的光源移动，调控进入所述积分球的光束量。本实用新型在被测样品在无需翻面的情况下，即可测得所述被测样品两侧的反射比以及被测样品的透射比；本实用新型能够同时测量所述非漫射平板材料的透射比和两侧的反射比，测量步骤少、操作简单、测量时间缩短。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京奥博泰科技有限公司 |
| 发明人： | 张喆民;黄达泉;侯佳音;吴筱;许海凤;钟星辉;苑静 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201720539547.8 |
| 公开号： | CN206848167U |
| 代理机构： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 |
| 代理人： | 郝传鑫;贾允 |
| 分类号： | G01N21/55(2014.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/55;G01N21/59 |
| 申请人地址： | 100000 北京市丰台区北京市丰台科技园区外环西路26号院总部国际19号楼 |
| 主权项： | 一种用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置，其特征在于，包括发射装置、被测样品、参考样品、接收装置和平移机构，所述发射装置或者接收装置处于所述平移机构上，且所述发射装置和接收装置位于所述被测样品和/或参考样品的同一侧，所述发射装置和接收装置的位置可互换；所述被测样品与发射装置之间的距离小于所述参考样品与发射装置之间的距离；所述发射装置包括光源、第一狭缝和透镜，所述光源用于提供光束，所述透镜用于对所述光束进行准直聚焦；所述接收装置包括积分球、第二狭缝和驱动机构，所述积分球用于收集进入其内部的所有光束；所述第二狭缝位于所述积分球的入口处；所述驱动机构用于驱动接收装置中的积分球移动，或者驱动所述发射装置中的光源移动，或者驱动所述第二狭缝移动，进而调控进入所述积分球的光束量。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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