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原文传递摄像模组组装前污点测试结构

专利名称：	摄像模组组装前污点测试结构
摘要：	本实用新型提供了一种摄像模组组装前污点测试结构，本实用新型通过在摄像模组组装机台之前上放上一个镜头/镜片模拟实际成品测试，实现组装前污坏点测试功能，实时检出不良，提升设备直通率，降低模组组装后的污坏点不良。本实用新型的结构不局限应用于AA设备中的污坏点测试，只要带有芯片开图功能测试污坏点的方法/设备，如：COB测试污坏点、外购设备增加污坏点测试，都可应用本实用新型的结构。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	宁波舜宇光电信息有限公司
发明人：	姚立锋;丁余辉;钟宝
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201720351650.X
公开号：	CN207007741U
代理机构：	上海申湖律师事务所 31308
代理人：	余毅勤
分类号：	G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95
申请人地址：	315400 浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号
主权项：	一种摄像模组组装前污点测试结构，其特征在于，包括：由上到下依次设置的光源、污坏点光源和摄像模组，所述污坏点光源和摄像模组之间设有镜头。
所属类别：	实用新型