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原文传递老化试验装置

专利名称：	老化试验装置
摘要：	本实用新型涉及一种老化试验装置，包括：外壳，为中空结构；辐照调节组件，包括光源，发出的光线用于模拟太阳光；试验箱体，包括壳体、安装架、表面温度计及热传导管，壳体为空心的密闭箱体，包括一容纳腔，光源及安装架设置于容纳腔内，表面温度计及测试样品均设置于安装架上，从而表面温度计与测试样品到光源的中心距离相等，热传导管固定连接于安装架，一端附着于表面温度计的平面上，另一端伸出到容纳腔外；温度传感器，设置于热传导管的远离表面温度计的一端；及控制组件，用于调节控制测试环境。上述老化试验装置，通过将温度传感器设置于容纳腔外，从而避免了容纳腔内的测试环境对于温度传感器的影响，数据的采集较为准确。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市中检检测设备有限公司
发明人：	朱骥;许广铿;陈国秋
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201820315750.1
公开号：	CN207882128U
代理机构：	北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人：	汤东凤
分类号：	G01N17/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N17;G01N17/00
申请人地址：	518000 广东省深圳市坪山新区坪山街道聚龙山片区金威源工业园C栋首层
主权项：	1.一种老化试验装置，用于样品的老化测试，其特征在于，包括：外壳，为中空结构；辐照调节组件，包括光源，发出的光线用于模拟太阳光；试验箱体，包括壳体、安装架、表面温度计及热传导管，所述壳体为空心的密闭箱体，包括一容纳腔，所述光源及所述安装架设置于所述容纳腔内，所述表面温度计及测试样品均设置于所述安装架上，从而所述表面温度计与测试样品到所述光源的中心距离相等，所述热传导管固定连接于所述安装架，一端附着于所述表面温度计的平面上，另一端伸出到容纳腔外；温度传感器，设置于所述热传导管的远离所述表面温度计的一端；及控制组件，用于调节控制测试环境。
所属类别：	实用新型