专利名称: |
老化试验装置 |
摘要: |
本实用新型涉及一种老化试验装置,包括:外壳,为中空结构;辐照调节组件,包括光源,发出的光线用于模拟太阳光;试验箱体,包括壳体、安装架、表面温度计及热传导管,壳体为空心的密闭箱体,包括一容纳腔,光源及安装架设置于容纳腔内,表面温度计及测试样品均设置于安装架上,从而表面温度计与测试样品到光源的中心距离相等,热传导管固定连接于安装架,一端附着于表面温度计的平面上,另一端伸出到容纳腔外;温度传感器,设置于热传导管的远离表面温度计的一端;及控制组件,用于调节控制测试环境。上述老化试验装置,通过将温度传感器设置于容纳腔外,从而避免了容纳腔内的测试环境对于温度传感器的影响,数据的采集较为准确。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市中检检测设备有限公司 |
发明人: |
朱骥;许广铿;陈国秋 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820315750.1 |
公开号: |
CN207882128U |
代理机构: |
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 |
代理人: |
汤东凤 |
分类号: |
G01N17/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N17;G01N17/00 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市坪山新区坪山街道聚龙山片区金威源工业园C栋首层 |
主权项: |
1.一种老化试验装置,用于样品的老化测试,其特征在于,包括:外壳,为中空结构;辐照调节组件,包括光源,发出的光线用于模拟太阳光;试验箱体,包括壳体、安装架、表面温度计及热传导管,所述壳体为空心的密闭箱体,包括一容纳腔,所述光源及所述安装架设置于所述容纳腔内,所述表面温度计及测试样品均设置于所述安装架上,从而所述表面温度计与测试样品到所述光源的中心距离相等,所述热传导管固定连接于所述安装架,一端附着于所述表面温度计的平面上,另一端伸出到容纳腔外;温度传感器,设置于所述热传导管的远离所述表面温度计的一端;及控制组件,用于调节控制测试环境。 |
所属类别: |
实用新型 |