详情

原文传递双温度控制老化试验装置

专利名称：	双温度控制老化试验装置
摘要：	本发明涉及一种双温度控制老化试验装置，包括：辐照调节组件，包括模拟太阳光的光源；试验箱体，包括壳体、安装架及表面温度计，壳体内有一容纳腔，光源及安装架设置于容纳腔内，安装架用于放置测试样品，表面温度计设置于安装架上，在通过出风板及回风板与壳体形成出风通道和回风通道；风冷组件，出风板及回风板上均设置有出风口，在风冷组件的作用下，空气在出风通道及回风通道之间形成对流，实现对表面温度计的表面的换热降温；传感器组件，包括温度传感器，用于测试表面温度计的表面温度；加热器，用于对容纳腔内的空气进行加热；及控制组件，用于根据温度传感器的反馈控制加热器。上述双温度控制老化试验装置可以实现双温度同时控制。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市中检检测设备有限公司
发明人：	朱骥;许广铿;陈国秋
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810183985.4
公开号：	CN108387507A
代理机构：	北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人：	汤东凤
分类号：	G01N17/00(2006.01)I;G05D27/02(2006.01)I;G;G01;G05;G01N;G05D;G01N17;G05D27;G01N17/00;G05D27/02
申请人地址：	518000 广东省深圳市坪山新区坪山街道聚龙山片区金威源工业园C栋首层
主权项：	1.一种双温度控制老化试验装置，用于样品的老化测试，其特征在于，包括：辐照调节组件，包括光源，发出的光线用于模拟太阳光；试验箱体，包括壳体、安装架及表面温度计，所述壳体为空心的密闭箱体，包括一容纳腔，所述光源及所述安装架设置于所述容纳腔内，所述安装架用于放置测试样品，所述表面温度计设置于所述安装架上；还包括出风板及回风板，所述出风板及所述回风板均设置于所述容纳腔内，与所述壳体固定连接，且分别位于所述光源的两侧，所述出风板与所述壳体之间合围形成一出风通道，所述回风板与所述壳体之间合围一回风通道，所述出风通道与所述回风通道相对设置；风冷组件，包括风冷驱动器及风轮，所述风轮固定于所述风冷驱动器的转轴上，在所述风轮驱动器的驱动下，所述风轮转动，所述风轮设置于所述出风通道内，所述出风板及所述回风板上均设置有出风口，从而空气在出风通道及回风通道之间形成对流，实现对表面温度计的表面的换热降温；传感器组件，包括温度传感器，用于测试所述表面温度计的表面温度；加热器，设置于所述容纳腔内，用于对所述容纳腔内的空气进行加热；及控制组件，用于根据所述温度传感器的反馈控制所述加热器，从而实现对容纳腔内的空气的温度的自动控制。
所属类别：	发明专利