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颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质
| 专利名称： | 颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质 |
| 摘要： | 本发明公开一种颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质，该方法包括获取激光粒度仪测量的待测样品的实测散射光能数据，获取实测散射光能数据中的主峰数据，并使用主峰数据计算待测样品中颗粒物的粒度分布数据；计算二个以上的相对折射率下颗粒物的粒度分布符合粒度分布数据时的拟合散射光能数据；计算实测及拟合归一化散射光能数据，并计算两者的方差；通过迭代计算两者方差最小时的目标相对折射率的值；应用介质的折射率与目标相对折射率的值计算待测样品的折射率。本发明还提供实现上述方法的计算机装置以及计算机可读存储介质。本发明可以方便的应用激光粒度仪的数据计算出颗粒物的折射率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 珠海真理光学仪器有限公司 |
| 发明人： | 张福根;潘林超 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810552388.4 |
| 公开号： | CN108872152A |
| 代理机构： | 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 |
| 代理人： | 林永协 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/41 |
| 申请人地址： | 519000 广东省珠海市香洲区翠前北路三街118号1栋2003 |
| 主权项： | 1.颗粒折射率测量方法，包括：获取激光粒度仪测量的待测样品的实测散射光能数据，所述待测样品分散在流体介质中；其特征在于：获取所述实测散射光能数据中的主峰数据，并使用所述主峰数据计算所述待测样品的粒度分布数据；计算二个以上的相对折射率下符合所述粒度分布数据时颗粒的拟合散射光能数据；将所述实测散射光能数据进行归一化获得实测归一化散射光能数据，将所述拟合散射光能数据进行归一化获得拟合归一化散射光能数据，计算所述实测归一化散射光能数据与所述拟合归一化散射光能数据的方差；通过迭代计算获取所述实测归一化散射光能数据与所述拟合归一化散射光能数据的方差最小时的目标相对折射率的值；应用所述介质的折射率与所述目标相对折射率的值计算待测样品的折射率。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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