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原文传递物品检测方法和装置

专利名称：	物品检测方法和装置
摘要：	本发明实施例提供一种物品检测方法和装置，其中，该方法包括：收发单元向置于收发单元和反射物之间的待检测物品发送第一发射信号；并接收该第一发射信号经该待检测物品和该反射物反射后的第一接收信号；根据该第一接收信号的第一特性检测该待检测物品；其中，该第一接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该第一发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是该第一发射信号经该待检测物品透射后、经过该反射物反射后再次经该待检测物品透射的信号。通过本实施例的上述方法，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	富士通株式会社
发明人：	张兆宇;底欣;田军;奥琛
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201710388229.0
公开号：	CN108956647A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	陶海萍
分类号：	G01N22/00(2006.01)I;G01V9/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01V;G01N22;G01V9;G01N22/00;G01V9/00
申请人地址：	日本神奈川县川崎市
主权项：	1.一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元、第一处理单元和反射物；所述收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送第一发射信号；并接收所述第一发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的第一接收信号；所述第一处理单元根据所述第一接收信号的第一特性检测所述待检测物品；其中，所述第一接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品透射后、经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射的信号。
所属类别：	发明专利