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一种基于涡流扫频成像层析检测方法
| 专利名称： | 一种基于涡流扫频成像层析检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于涡流扫频成像层析检测方法，基于涡流趋肤效应的原理，利用机械手扫查、采用高密度变化频率扫频涡流成像，得出系列二维涡流层析成像图，并利用制作多种不连续性标样，反演推算出该导电材料内部不连续性的位置大小、形状，本发明方法对于大型部件，考虑到局部不连续性对整体部件使用效果的影响，提供了尽可能精确的涡流检测数据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 爱德森（厦门）电子有限公司 |
| 发明人： | 林俊明;倪培君;林春景 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810846551.8 |
| 公开号： | CN108872373A |
| 分类号： | G01N27/90(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/90 |
| 申请人地址： | 361008 福建省厦门市思明区软件园望海路23号703室 |
| 主权项： | 1.一种基于涡流扫频成像层析检测方法，其特征在于：包括标定过程和实测过程，所述标定过程为，a.制作多种不连续缺陷的标准试样；所述标准试样的材质、结构与被检工件相同；所述多种不连续缺陷是指不同深度、不同大小、不同形状的不连续缺陷；b.将扫频涡流检测传感器固定在机械手上，扫频涡流检测仪采用高密度变化系列频率激励扫频涡流检测传感器；c.机械手控制扫频涡流检测传感器扫查多种不连续缺陷的标准试样，高密度变化系列频率中每个频率的渗透深度不同，因此每个频率能够检测到的不连续缺陷的深度也不同，故此通过高密度变化系列频率激励，得到不同频率的标准试样中的不同深度的多种不连续缺陷的二维涡流层析成像图；所述实测过程为，d.机械手控制扫频涡流检测传感器扫查被检工件，得到被检工件的高密度变化系列频率对应的二维涡流层析成像图；e.将步骤d中得到的被检工件的二维涡流层析成像图与步骤c中得到的标准试样的二维涡流层析成像图对比分析，反演推算出被检工件的不连续缺陷的位置、大小、形状。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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