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一种基于方向调制的高信噪比涡流热成像检测方法
| 专利名称： | 一种基于方向调制的高信噪比涡流热成像检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于方向调制的高信噪比涡流热成像检测方法。本发明利用涡流热成像检测中裂纹对不同方向电磁激励响应不同的规律，采用低速旋转的高频磁场进行激励，使得裂纹区域热信号被选择性调制，在频域分析后获得高信噪比的裂纹检测结果。本发明可以使得调制对裂纹具有选择性，裂纹位置才会产生幅度较大的加热功率周期性变化（被调制），而非裂纹位置的加热功率几乎不随时间变化（不被调制），因此对观测信号的调制频率及其倍频成分的幅度、相位进行分析时，裂纹和非裂纹位置具有更强对比度，裂纹检测信噪比更高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中国计量大学 |
| 发明人： | 侯德鑫;叶树亮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811178570.4 |
| 公开号： | CN109187638A |
| 代理机构： | 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 |
| 代理人： | 王佳健 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 |
| 主权项： | 1.一种基于方向调制的高信噪比涡流热成像检测方法，其特征在于：采用高频电磁场对样品进行激励，使裂纹附近的涡流密度与无裂纹区域存在差异，该差异通过涡流焦耳热效应转化为裂纹区域和无裂纹区域的温度差异，然后通过热像仪观察识别裂纹，其中样品表面的励磁方向以调制频率低速旋转，利用裂纹对不同方向励磁具有不同响应的特点，使裂纹区域附近的涡流密度被选择性调制，而非裂纹区域的涡流密度几乎不随时间变化；热像仪记录多个调制周期的数据，然后进行频域分析检测裂纹。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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