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用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备
| 专利名称： | 用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备。其中样品杆装置包括真空管，真空罩体，悬置在真空罩体容腔内的导热板以及放置在导热板板面上的样品组件；样品组件包括稳温端底座，发射端顶座以及屏蔽罩体；稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；样品组件还包括有悬置于所述容纳腔内的吸收端样品件以及发射端样品件。本发明提供的样品杆装置可实现低温环境下不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试；此外本发明提供的测试设备，通过以制冷机为冷源的低温装置与样品杆装置的配合，使得低温环境下对不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试操作更简便，测试的可靠性及效率更高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 发明人： | 沈福至;徐冬;李旭;李来风;刘辉明;张恒成;王永光;黄荣进;李健;李墨囡;董虹妤;张凯凯;吕秉坤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810607814.X |
| 公开号： | CN108562612A |
| 代理机构： | 北京正理专利代理有限公司 11257 |
| 代理人： | 王喆 |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/20 |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区中关村东路29号 |
| 主权项： | 1.一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置，其特征在于，所述样品杆装置包括：具有中空内腔的真空管；具有容腔的真空罩体；所述真空罩体包括一端具有开口的罩体，以及结合固定在罩体开口处的且与真空管一端部结合固定的二级传热环件；悬置在真空罩体容腔内的导热板，该导热板通过连接件与二级传热环件连接固定，且所述连接件与罩体之间不相接触；所述样品杆装置还包括有：放置在导热板板面上的样品组件；所述样品组件包括：位于底部的稳温端底座；位于顶部的发射端顶座；以及一端与稳温端底座连接固定，另一端与发射端顶座连接固定的屏蔽罩体；所述稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；所述屏蔽罩体外侧壁表面与连接件之间，以及发射端顶座顶部表面与二级传热环件底部表面之间均不相接触；所述样品组件还包括有：悬置于所述容纳腔内的通过量热棒与所述稳温端底座连接固定的吸收端样品件；以及悬置于所述容纳腔内的通过绝热棒与所述发射端顶座连接固定的发射端样品件；所述发射端样品件处于吸收端样品件上方位置且对应设置，且所述吸收端样品件顶部表面与发射端样品件底部表面之间留有间隙。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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