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原文传递路径长度校准系统和方法

专利名称：	路径长度校准系统和方法
摘要：	一种设备(50)包含耦合到i)摆臂(54)和ii)具有第一光纤(18a)的光源的第一基座表面(13)。所述设备进一步包含磁体(1)、底板(52)、耦合到所述底板的机械止动器(53)以及第二基座表面(15)，所述第二基座表面以机械方式耦合到所述底板且被配置成接收液体样本，所述第二基座表面耦合到具有第二光纤(18b)的光谱仪，所述两个表面之间的距离限定用于光学样本分析的光程长度。所述设备进一步包含：磁通量传感器(10)，例如霍尔传感器，所述磁通量传感器定位于所述磁体的北磁通量场与南磁通量场之间，使得在所述机械止动器与所述摆臂物理接触时到达所述传感器的磁通量提供所述磁通量传感器的线性输出范围；以及处理器，所述处理器适于使用从所述磁体发射且由所述磁通量传感器检测到的阈值磁通量场来校准最小光程长度的点。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	热电科学仪器有限公司
发明人：	D·W·阿什米德;J·V·霍华德;K·K·金;A·M·布拉施
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201680049253.5
公开号：	CN108139315A
代理机构：	上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：	陈洁;姬利永
分类号：	G01N21/03(2006.01)I;G01D5/00(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01D;G01N21;G01D5;G01N21/03;G01D5/00;G01N21/31
申请人地址：	美国威斯康星州
主权项：	一种用于测量样本的光学特性的设备，所述设备包括：a.第一基座表面，所述第一基座表面耦合到i)摆臂和ii)光源；b.磁体；c.底板；d.机械止动器，所述机械止动器耦合到所述底板；e.第二基座表面，所述第二基座表面以机械方式耦合到所述底板且被配置成接收液体样本，所述第二基座表面耦合到光谱仪，其中所述第二基座表面能够进一步操作以便按可变距离(P)调整所述第一基座表面与所述第二基座表面之间的分离度来将所述液体样本拉动到立柱中以便通过表面张力容留或在光学分析期间挤压所述样本，由此提供用于光度或光谱测量的光学路径；f.磁通量传感器，所述磁通量传感器位于所述磁体的北磁通量场与南磁通量场之间，使得在所述机械止动器与所述摆臂物理接触时到达所述传感器的所述磁通量提供所述磁通量传感器的线性输出范围；以及g.处理器，所述处理器适于通过利用从所述磁体发射且由所述磁通量传感器检测到的阈值磁通量场来校准最小光程长度的点。
所属类别：	发明专利