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原文传递烧蚀参数测量装置及方法

专利名称：	烧蚀参数测量装置及方法
摘要：	本公开涉及一种烧蚀参数测量装置及方法。所述装置包括：固定组件，用于固定试件；火焰喷射组件，用于对试件进行烧蚀；射线发射组件，设置在试件的一侧，用于向试件发射射线；射线探测组件，设置在所述试件的另一侧，用于获取试件在射线的照射下产生的透射图像；处理组件，用于根据透射图像，确定所述烧蚀参数。根据本公开的实施例的烧蚀参数测量装置，通过固定组件对试件进行固定并对试件进行烧蚀，同时通过对烧蚀中的试件的透射图像进行分析来确定烧蚀参数，能够实现烧蚀参数的在线测量，并且受环境干扰较小，测量误差较小。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学
发明人：	冯雪;朱相宇;唐云龙;岳孟坤;方旭飞
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810391082.5
公开号：	CN108572182A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N23/04(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04;G01N23/083
申请人地址：	100084 北京市海淀区清华园1号
主权项：	1.一种烧蚀参数测量装置，其特征在于，包括：固定组件、射线发射组件、射线探测组件、火焰喷射组件和处理组件，所述固定组件用于固定试件；所述火焰喷射组件用于对所述试件进行烧蚀；所述射线发射组件设置在所述试件的一侧，用于向所述试件发射射线；所述射线探测组件设置在所述试件的另一侧，用于获取所述试件在所述射线的照射下产生的透射图像；所述处理组件用于根据所述透射图像，确定所述试件的烧蚀参数。
所属类别：	发明专利