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用于测量电子激发态的平均寿命的发射寿命测量方法和设备
| 专利名称： | 用于测量电子激发态的平均寿命的发射寿命测量方法和设备 |
| 摘要： | 一种发射寿命测量方法、特别是用于测量样本的电子激发态的平均寿命的发射寿命测量方法，所述方法包括以下步骤：利用至少一个激发光脉冲照射样本；时间分辨式检测来自样本的发射响应并创建时间性检测器响应函数；以及基于检测器响应函数计算电子激发态的平均寿命；其中，所述至少一个激发光脉冲被成形为使得所述样本达到包括线性增加的或恒定数量的电子激发态的平衡激发稳态，检测器响应函数具有有恒定斜率的线性响应函数区段，并且基于线性响应函数区段的相对于至少一个激发光脉冲的参考时间的时间位置和线性响应函数区段的斜率中的至少一个来计算电子激发态的平均寿命(τ)。此外，还描述了一种发射寿命测量设备(100)。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 德国;DE |
| 申请人： | 马克斯-普朗克科学促进学会 |
| 发明人： | T·M·约温;N·P·库克 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201680078957.5 |
| 公开号： | CN108463714A |
| 代理机构： | 永新专利商标代理有限公司 72002 |
| 代理人： | 周家新 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 德国慕尼黑 |
| 主权项： | 1.一种发射寿命测量方法、特别是用于测量样本的电子激发态的平均寿命的发射寿命测量方法，所述方法包括以下步骤‑利用至少一个激发光脉冲照射样本，‑时间分辨式检测来自样本的发射响应并创建时间性检测器响应函数，以及‑基于检测器响应函数计算电子激发态的平均寿命，其特征在于：‑所述至少一个激发光脉冲成形为使得样本达到包括线性增加的或恒定数量的电子激发态的平衡激发稳态，‑检测器响应函数具有线性响应函数区段，所述线性响应函数区段具有恒定的斜率，以及‑基于线性响应函数区段的相对于所述至少一个激发光脉冲的参考时间的时间位置和线性响应函数区段的斜率中的至少一个来计算电子激发态的平均寿命(τ)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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