原文传递
一种高反射率材料表面缺陷的热成像检测系统和方法
| 专利名称： | 一种高反射率材料表面缺陷的热成像检测系统和方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高反射率材料表面缺陷的热成像检测系统和方法。包括参数检测模块、系统控制模块、红外测量成像模块、聚焦旗、聚焦旗制作模块、运动控制模块、信号处理模块及诊断模块，能够对高反射率材料表面的细微裂纹缺陷进行检测，检验速度快，实施简单，结果直观，效率高，无辐射，无化学腐蚀，避免了光污染，节约能量，准确度高，另外，能够严格控制曝光，符合特种零件生产工艺的要求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖南;43 |
| 申请人： | 湖南大学 |
| 发明人： | 何赟泽;王昵辰;王洪金;邓堡元 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810612152.5 |
| 公开号： | CN108593710A |
| 代理机构： | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 |
| 代理人： | 彭庆 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/72 |
| 申请人地址： | 410100 湖南省长沙市岳麓区麓山南路2号 |
| 主权项： | 1.一种高反射率材料表面缺陷的热成像检测系统，其特征在于，包括：参数检测模块，检测、计算出被测对象的形态学参数；红外测量成像模块，用于测量被测对象发射的中波红外辐射或长波红外辐射或者温度，以热像图序列形式记录下来；聚焦旗制作模块，通过参数检测模块读取被测对象形态学参数，制造出适合该被测对象的聚焦旗；聚焦旗，辅助红外测量成像模块完成自动对焦；运动控制模块，用于支持参数检测模块、红外测量成像模块、聚焦旗、被测对象中的某个或者某几个物体的相对运动；系统控制模块，控制参数检测模块工作以获得被测对象的形态学参数，以及控制红外测量成像模块的触发、断开和工作时间，以及聚焦旗制作模块制作聚焦旗，以及相关模块的联动。信号处理模块及诊断模块，信号处理模块可以用于处理热像仪的热像图序列，从而获得特征值，所述诊断模块利用特征值对缺陷进行检测、分类和定量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
