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原文传递表面缺陷检测系统和方法

专利名称：	表面缺陷检测系统和方法
摘要：	本申请涉及一种表面缺陷检测系统，该系统包括：缺陷检测设备，用于接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备，用于对所述缺陷进行分类，得到分类结果。该系统通过对缺陷进行分类有利于后续有针对性地对缺陷进行修补。此外，还提出了一种缺陷检测方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳新视智科技术有限公司
发明人：	张孟;廖方诚;曾江东
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910412797.9
公开号：	CN110161045A
代理机构：	深圳中细软知识产权代理有限公司
代理人：	阎昱辰
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市罗湖区莲塘鹏基工业区710栋6楼
主权项：	1.一种表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：缺陷检测设备，用于接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备，用于对所述缺陷进行分类，得到分类结果。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述系统还包括：与所述缺陷检测设备连接的摄像装置，用于对所述目标主体进行拍摄得到目标图像，将所述目标图像传输给所述缺陷检测设备。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测设备还用于根据检测得到的缺陷的边缘点信息提取出缺陷图像，将所述缺陷图像发送给所述缺陷分类设备；所述缺陷分类设备还用于根据所述缺陷图像对所述缺陷进行分类得到分类结果。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷分类设备有多个，所述多个缺陷分类设备中包括一个主缺陷分类设备；所述主缺陷分类设备用于获取每个缺陷分类设备的负载和对应的待分类的图像数量，根据所述缺陷分类设备的负载和待分类的图像数量对所述缺陷分类设备进行评分，根据评分结果确定目标缺陷分类设备，将所述目标缺陷分类设备的地址返回给所述缺陷检测设备；所述缺陷检测设备还用于根据所述目标缺陷分类设备的地址建立与所述目标缺陷分类设备的连接。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测设备有多个，所述每个缺陷检测设备与多个所述摄像装置连接。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷分类设备还用于将分类完成后的缺陷图像和相应的附属信息存入数据库，所述附属信息包括：缺陷类型。 7.一种表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：缺陷检测设备接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；所述缺陷分类设备对所述缺陷进行分类，得到分类结果。 8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：与所述缺陷检测设备连接的摄像装置对所述目标主体进行拍摄得到目标图像，将所述目标图像传输给所述缺陷检测设备。 9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测设备接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备，包括：所述缺陷检测设备根据检测得到的缺陷的边缘点信息提取出缺陷图像，将所述缺陷图像发送给所述缺陷分类设备；所述所述缺陷分类设备对所述缺陷进行分类，得到分类结果，包括：所述缺陷分类设备根据所述缺陷图像对所述缺陷进行分类得到分类结果。 10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述缺陷分类设备有多个，所述多个缺陷分类设备中包括一个主缺陷分类设备；在所述将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备之前，还包括：所述主缺陷分类设备接收所述缺陷检测设备发送的分类请求，根据所述分类请求获取每个缺陷分类设备的负载和对应的待分类的图像数量，根据所述缺陷分类设备的负载和待分类的图像数量对所述缺陷分类设备进行评分，根据评分结果确定目标缺陷分类设备，将所述目标缺陷分类设备的地址返回给所述缺陷检测设备；所述缺陷检测设备根据所述目标缺陷分类设备的地址建立与目标缺陷分类设备的连接。
所属类别：	发明专利