专利名称: | 表面缺陷检测系统 |
摘要: | 本实用新型涉及一种表面缺陷检测系统,属于缺陷检测技术领域。该系统中,至少两个光源和第一图像采集设备位置相对固定;检测台,用于放置待检测表面;至少两个光源,每个光源点亮时射入待检测表面的光束的角度不同;在同步信号发生器控制下,每个光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,第一图像采集设备获取每个光源照射时的待检测表面的图像;处理器将图像进行合成,检测待检测表面的缺陷。在进行物件的表面缺陷时,将待检测表面放置于检测台上,至少两个光源在不同角度分别照射待检测表面,利用时分的方式,减少相机数量,节约检测成本,为镜面提供稳定的、角度全面的、利于暴露细微缺陷的光照方案,解决了现有技术中存在的无法准确检测镜面微缺陷问题。 |
专利类型: | 实用新型 |
国家地区组织代码: | 北京;11 |
申请人: | 北京深度奇点科技有限公司 |
发明人: | 方勇;戚骁亚;冯学智;姚江华 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2019-04-12T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-12-10T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201920498968.X |
公开号: | CN209764751U |
代理机构: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 |
代理人: | 韩国强 |
分类号: | G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: | 100089 北京市海淀区知春路甲48号1-4号楼3号楼15层3单元18D-01 |
所属类别: | 实用新型 |