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一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法
| 专利名称： | 一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，包括：获取复合材料产品的二值化超声C扫图；基于所述复合材料产品的二值化超声C扫图，分别确定复合材料产品长度方向和宽度方向的像素比例系数K1和K2；对于复合材料的超声C扫图上的各个缺陷，获取各个缺陷包含的像素的个数和，基于所述各个缺陷包含的像素的个数和以及K1和K2，获取各个缺陷的面积；对各个缺陷面积求和得到缺陷总面积。该方法实现了复合材料超声C扫缺陷面积准确、快速地计算，且工作量小，满足复合材料产品内部质量控制要求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 发明人： | 高晓进;周金帅;江柏红 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810322575.3 |
| 公开号： | CN108593774A |
| 分类号： | G01N29/06(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I;G01B17/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N29;G01B17;G01N29/06;G01N29/44;G01B17/00 |
| 申请人地址： | 100074 北京市丰台区云岗北里40号院1-8 |
| 主权项： | 1.一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，其特征在于，通过以下步骤实现：步骤一、获取复合材料产品的二值化超声C扫图步骤二、基于所述复合材料产品的二值化超声C扫图，分别确定复合材料产品长度方向和宽度方向的像素比例系数K1和K2；步骤三、对于复合材料的超声C扫图上的各个缺陷，获取各个缺陷包含的像素的个数和，基于所述各个缺陷包含的像素的个数和以及K1和K2，获取各个缺陷的面积；步骤四、对各个缺陷面积求和得到缺陷总面积。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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