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一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法
| 专利名称： | 一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法，包括如下步骤：根据被检件的外形，规划探头的扫查路径，使探头到被检件表面的距离相同；根据被检件的超声衰减系数和厚度确定超声波探伤仪的检测灵敏度；对被检件进行超声C扫检测，得到被检件的C扫灰度图像；计算被检件C扫灰度图像不同厚度处的补偿值，对C扫灰度图像进行灰度值补偿处理，得到补偿后的C扫图，根据C扫图进行缺陷判定；所述补偿值按照如下公式进行计算： |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 发明人： | 高晓进;贺锁让;李晋平;江柏红;周金帅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810336337.8 |
| 公开号： | CN108519443A |
| 代理机构： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 |
| 代理人： | 谭辉;周娇娇 |
| 分类号： | G01N29/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/44 |
| 申请人地址： | 100074 北京市丰台区云岗北里40号院 |
| 主权项： | 1.一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法，其特征在于：所述检测方法包括如下步骤：(1)根据被检件的外形，规划超声发射探头和超声接收探头的扫查路径，使超声发射探头和超声接收探头在扫查时到被检件表面的距离相同；(2)根据被检件的超声衰减系数和厚度确定超声波探伤仪的检测灵敏度；(3)对被检件进行超声C扫检测，得到被检件的C扫灰度图像；(4)计算被检件C扫灰度图像不同厚度处的补偿值，对C扫灰度图像进行灰度值补偿处理，得到补偿后的C扫图，根据C扫图进行缺陷判定；所述补偿值按照如下公式进行计算： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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