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原文传递串联型质谱分析装置

专利名称：	串联型质谱分析装置
摘要：	对由四极杆滤质器(2)选择出的前体离子施加规定的碰撞能量(CE)来使该前体离子断裂，仅将所生成的产物离子中的规定的m/z范围的离子累积到离子阱(4)，之后利用TOF(5)分离并检测该规定的m/z范围的离子。针对源自目标化合物的一个前体离子，按所设定的多个CE值与细致划分出的m/z范围的每个组合进行质谱分析来获取谱数据，谱数据累计部(81)对通过不同的(CE值，m/z范围)的组合下的质谱分析得到的谱数据进行累计。质谱制作部(82)基于累计得到的谱数据来制作与目标化合物对应的一个产物离子谱。在该谱中，能够以高灵敏度观测到在多个CE值下得到的大的质荷比范围的产物离子。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社岛津制作所
发明人：	盐浜徹
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201580082008.X
公开号：	CN107923872A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62
申请人地址：	日本京都府
主权项：	一种串联型质谱分析装置，具备：离子源，其使试样中的化合物离子化；第一质谱分离部，其从所生成的各种离子中筛选具有特定质荷比的离子来作为前体离子；离子断裂部，其通过碰撞诱导裂解使该前体离子断裂；以及第二质谱分离部及检测器，其对通过该断裂而生成的各种产物离子进行质谱分析，其中，能够通过使所述第一质谱分离部、所述离子断裂部以及所述第二质谱分离部中的任一个作为离子累积部进行动作来暂时累积离子，或者，能够通过设置于所述第一质谱分离部与所述离子断裂部之间或设置于所述离子断裂部与所述第二质谱分离部之间的离子累积部来暂时累积离子，该串联型质谱分析装置的特征在于，具备：a)碰撞能量设定部，其将在所述离子断裂部中的碰撞诱导裂解时赋予前体离子的碰撞能量变更为m个等级，其中，m为2以上的整数；b)质荷比范围设定部，其将所述离子累积部中累积的离子的质荷比范围变更为在质荷比方向上错开的n个等级，其中，n为2以上的整数；c)分析控制部，其对各部的动作进行控制，使得通过所述碰撞能量设定部来设定m个等级的碰撞能量中的一个，并且通过所述质荷比范围设定部来设定n个等级的质荷比范围中的一个，在该碰撞能量与质荷比范围相组合而成的条件下针对规定的前体离子实施产物离子的质谱分析，该分析控制部对各部的动作进行控制，使得对碰撞能量与质荷比范围的组合不同的m×n个全部组合分别各实施至少一次的产物离子的质谱分析；以及d)数据处理部，其对通过在所述分析控制部的控制下实施了至少m×n次的产物离子的质谱分析所得到的谱数据进行累计，由此制作一个遍及规定质荷比范围的质谱。
所属类别：	发明专利