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基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备
| 专利名称： | 基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备 |
| 摘要： | 本实用新型公开了基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备，包括超快激光束；反射镜，所述超快激光束会被反射的激光束将会汇集于一点；金属靶，被反射的激光束会入射到金属靶上后会产生X射线、质子束和电子束；定位块，所述定位块位于金属靶后方；质子探测器，所述质子束探测器位于定位块后方，用于探测并记录质子束拍摄到的质子图像；偏转磁铁，所述偏转磁铁用于将质子束、电子束偏转；X射线探测器，所述X射线探测器位于偏转磁铁后方，用于探测并记录X射线拍摄到的X射线图像。该设备中各器件均十分易得，组合安放十分便利，并且使用该设备对客体进行拍摄可在一次检测中完成不同物质密度客体及其携带电磁场信息的测量。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 发明人： | 张天奎;于明海;吴玉迟;贺书凯;滕建;卢峰;朱斌;闫永宏;董克攻;谭放;杨月;范伟;李纲;辛建婷;谷渝秋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820526183.4 |
| 公开号： | CN208155903U |
| 代理机构： | 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 |
| 代理人： | 王育信 |
| 分类号： | G01N23/2208(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2208 |
| 申请人地址： | 621700 四川省绵阳市游仙区绵山路64号 |
| 主权项： | 1.基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备，其特征在于，包括超快激光束(1)；反射镜(2)，所述反射镜为弧形反射镜，所述超快激光束水平入射到反射镜上后，被反射的激光束将会汇集于一点；金属靶(3)，所述金属靶位于反射镜的被反射的激光束所在侧，被反射的激光束会入射到金属靶上，并通过激光等离子体相互作用产生X射线、质子束和电子束；定位块(4)，所述定位块位于金属靶后方，即位于金属靶的出射方向，以便于X射线和质子束对取代定位块后的客体进行拍摄；质子探测器(5)，所述质子束探测器位于定位块后方，用于探测并记录质子束拍摄到的质子图像；偏转磁铁(6)，所述偏转磁铁位于质子探测器后方，用于将质子束、电子束偏转；X射线探测器(7)，所述X射线探测器位于偏转磁铁后方，用于探测并记录X射线拍摄到的X射线图像。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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