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原文传递 X射线分析辅助设备和X射线分析设备

专利名称：	X射线分析辅助设备和X射线分析设备
摘要：	根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社理学
发明人：	谷口弥生;森川惠一
专利状态：	有效
申请日期：	2018-01-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201880015532.9
公开号：	CN110383052A
代理机构：	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：	高文静
分类号：	G01N23/201(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种针对X射线分析设备的X射线分析辅助设备，所述X射线分析设备用于在来自X射线源的X射线入射到样品时通过二维检测器检测由样品散射或衍射的X射线，并且所述X射线分析辅助设备用于设置X射线分析设备的测量条件，其特征在于，样品和二维检测器之间的距离L以及期望作为由样品散射或衍射的X射线的测量数据被获取的检测最大范围Xmax被包含作为设置项目；表示其中二维检测器的检测面能够检测X射线的范围的X射线检测区域A，以及表示其中检测最大范围Xmax中的X射线入射到包含二维检测器的检测面的测量平面的广角侧上的边界的最大测量帧Hmax被包含作为显示项目；并且所述X射线分析辅助设备包括：设置值输入部件，用于输入与距离L和检测最大范围Xmax对应的值中的一个，自动设置部件，用于基于由设置值输入部件输入的与一个设置项目对应的值自动设置另一设置项目；以及显示部件，用于基于距离L和检测最大范围Xmax在显示屏上显示最大测量帧Hmax，并在显示屏上显示X射线检测区域A。 2.根据权利要求1所述的X射线分析辅助设备，其中，期望作为由样品散射或衍射的X射线的测量数据而被获取的检测最小范围Xmin被包含作为设置项目；表示其中检测最小范围Xmin中的X射线入射到测量平面的低角度侧上的边界的最小测量帧Hmin被包含作为显示项目，所述设置值输入部件具有输入和设置距离L和检测最小范围Xmin中的一个的功能；所述显示部件具有基于距离L和检测最小范围Xmin在显示屏上显示最小测量帧Hmin的功能。 3.根据权利要求1或2所述的X射线分析辅助设备，还包括显示改变部件，用于发出改变显示在显示屏上的内容的指令。 4.根据权利要求3所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于在显示屏上显示网格的指令，并且所述显示部件具有基于所述指令显示具有方块的网格的功能，所述每个方块具有与显示屏上的X射线检测区域A相同的尺寸和形状。 5.根据权利要求3或4所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于移动显示屏上显示的X射线检测区域A的指令，并且所述显示部件具有基于所述指令在显示屏内移动X射线检测区域A的功能。 6.根据权利要求3或4所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于在显示屏上显示多个X射线检测区域A的指令，并且所述显示部件具有基于所述指令在显示屏上显示多个X射线检测区域A的功能。 7.根据权利要求3或4所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于在显示屏上的任何位置处显示任意数量的X射线检测区域A的指令，并且所述显示部件具有基于所述指令在显示屏上的任何位置处显示任意数量的X射线检测区域A的功能。 8.根据权利要求3或4所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于改变显示屏上显示的最大测量帧Hmax的尺寸的指令，所述显示部件具有基于所述指令改变显示屏上显示的最大测量帧Hmax的尺寸的功能，并且所述自动设置部件具有基于改变的最大测量帧Hmax自动设置距离L或检测最大范围Xmax的功能。 9.根据权利要求3至7中任一项所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于根据显示屏上显示的X射线检测区域A的外边缘改变最大测量帧Hmax的尺寸的指令，所述显示部件具有基于所述指令根据显示屏上显示的X射线检测区域A的外边缘改变最大测量帧Hmax的尺寸的功能，以及所述自动设置部件具有基于改变的最大测量帧Hmax自动设置距离L或检测最大范围Xmax的功能。 10.根据权利要求3或4所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于划分显示屏上显示的最大测量帧Hmax内的测量区域并显示划分的测量区域的一部分的指令，并且所述显示部件具有基于所述指令划分显示屏上显示的最大测量帧Hmax内的测量区域并显示划分的测量区域的一部分的功能。 11.根据权利要求10所述的X射线分析辅助设备，其中，所述自动设置部件具有自动设置X射线检测区域A的数量和布置以覆盖最大测量帧Hmax内的测量区域的功能，测量区域被划分成多个部分，并且一些部分被显示，并且所述显示部件具有在显示屏上显示自动设置的X射线检测区域A的数量和布置的功能。 12.根据权利要求3或4所述的X射线分析辅助设备，其中，所述显示改变部件发出用于在显示屏上的任何位置处显示具有任何尺寸和任何形状的指定测量范围H的指令，所述显示部件具有基于所述指令在显示屏上的任何位置处显示具有任何尺寸和任何形状的指定测量范围H的功能，所述自动设置部件具有自动设置X射线检测区域A的数量和布置以覆盖显示屏上显示的指定测量范围H的功能，并且所述显示部件具有在显示屏上以自动设置的布置显示自动设置的数量的X射线检测区域A的功能。 13.根据权利要求1至12中任一项所述的X射线分析辅助设备，还包括：数据读取部件，用于读取包含由二维检测器检测到的X射线信息的现有测量数据，并且所述显示部件具有在显示屏上显示包含在由所述数据读取部件读取的测量数据中的X射线信息的功能。 14.根据权利要求1至13中任一项所述的X射线分析辅助设备，其中，所述X射线分析设备是使用二维半导体检测器作为二维检测器的小角度X射线散射测量装置，并且检测最大范围Xmax基于由样品散射或衍射的X射线的散射或衍射向量Q、由样品散射或衍射的X射线相对于入射到样品的X射线的光轴的散射或衍射角2θ或者样品的结构中的尺寸d来设置。 15.一种X射线分析设备，包括用于使X射线入射到样品的X射线源、用于检测由样品散射或衍射的X射线的二维检测器，以及用于设置测量条件的X射线分析辅助设备，其中，X射线分析辅助设备是根据权利要求1至12中任一项所述的X射线分析辅助设备。
所属类别：	发明专利