专利名称: |
一种利用拉曼光谱测量TNT中杂质含量的方法 |
摘要: |
本发明涉及一种利用拉曼光谱测量TNT中杂质含量的方法。本发明的测量方法,配制一组待测杂质纯品含量梯度排列的标准测试样品,并对每个标准测试样品进行拉曼光谱分析;在每一幅测试图中选取一个待测杂质对应的非叠加特征峰和TNT对应的非叠加特征峰,并以分别测峰面积后的比值作为含量标定参数;在坐标系中标定每一幅测试图对应的含量标定参数和已知杂质含量值,得到杂质含量标定曲线;取未知含量杂质的TNT待测样品进行拉曼光谱分析,取相同波谱位置的两个特征峰,将两个峰面积的比值代入杂质含量标定曲线,得出TNT待测样品的杂质含量值。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京理工大学 |
发明人: |
刘文芳;孟子晖;高凤 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810938487.6 |
公开号: |
CN108732159A |
代理机构: |
北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 |
代理人: |
王民盛 |
分类号: |
G01N21/65(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/65 |
申请人地址: |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |
主权项: |
1.一种利用拉曼光谱测量TNT中杂质含量的方法,其特征是具体测量步骤如下:步骤1、取不同质量的待测杂质纯品分别与相同质量的TNT纯品混合后溶于增强溶剂中,配制成一组待测杂质纯品含量梯度排列的标准测试溶液;所述标准测试溶液中固体物质的浓度范围为1‑50mg/mL;步骤2、取步骤1配制的每一份标准测试溶液分别置于单独的测试槽中,待每个测试槽内的增强溶剂挥发后,对每个测试槽的标准测试样品进行拉曼光谱分析,得到一组拉曼光谱标定图;步骤3、在每一幅拉曼光谱标定图中待测杂质对应的所有非叠加特征峰内任意选取一个共同波谱位置的波峰作为含量标定波峰,并测得该含量标定波峰的峰面积;同时在每一幅拉曼光谱标定图中TNT对应的所有非叠加特征峰内任意选取一个共同波谱位置的波峰作为基准波峰,并测得该基准波峰的峰面积;步骤4、将每一幅拉曼光谱标定图中含量标定波峰的峰面积除以基准波峰的峰面积,得到该幅拉曼光谱标定图对应的含量标定参数;以含量标定参数值作为纵坐标、杂质含量作为横坐标建立含量标定坐标系;将每一幅拉曼光谱标定图对应的含量标定参数和已知杂质含量值标定在含量标定坐标系中,将各点拟合后得到杂质含量标定曲线;步骤5、取未知含量杂质的TNT待测样品溶于增强溶剂后得到待测溶液,置于测试槽内,待测试槽内待测溶液的增强溶剂挥发后,对该测试槽的待测样品进行拉曼光谱分析,得到拉曼光谱检测图;所述待测溶液中固体物质的浓度范围为1‑50mg/mL;步骤6、在步骤5得到的拉曼光谱检测图中选取与步骤3中含量标定波峰相同波谱位置的波峰作为含量测量波峰,并测得该含量测量波峰的峰面积;同时在步骤5得到的拉曼光谱检测图中选取与步骤3中基准波峰相同波谱位置的波峰作为基准测量波峰,并测得该基准测量波峰的峰面积;步骤7、将含量测量波峰的峰面积除以基准测量波峰的峰面积,得到含量测试参数;将含量测试参数值作为纵坐标代入步骤4得到的杂质含量标定曲线中,杂质含量标定曲线对应横坐标的杂质含量值即为TNT待测样品的杂质含量值。 |
所属类别: |
发明专利 |