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太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的装置和方法
| 专利名称： | 太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的装置和方法 |
| 摘要： | 本发明属于光电检测技术领域，为提出一种太赫兹波调制最大激光谱强度的非接触式测量电光系数的方法,实现电光系数的准确测量。为此，本发明采用的技术方案是，太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的装置和方法，利用太赫兹时域频谱技术中的泵浦‑探测系统，将产生的太赫兹波和探测激光同时聚焦到探测晶体上，此时，激光作为探测信号，太赫兹波作为调制信号，通过光谱仪分别测量有太赫兹波存在和无太赫兹波存在时探测激光光谱的最大强度改变量，再通过计算公式反推出样品对应的电光系数。本发明主要应用于光电检测场合。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 柴路;宋琦;马庆;刘伟宁;栗岩锋;胡明列 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810394491.0 |
| 公开号： | CN108918457A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 刘国威 |
| 分类号： | G01N21/3586(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3586 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的方法，其特征是，利用太赫兹时域频谱技术中的泵浦‑探测系统，将产生的太赫兹波和探测激光同时聚焦到探测晶体上，此时，激光作为探测信号，太赫兹波作为调制信号，通过光谱仪分别测量有太赫兹波存在和无太赫兹波存在时探测激光光谱的最大强度改变量，再通过计算公式反推出样品对应的电光系数。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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