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原文传递太赫兹光谱测量样品架

专利名称：	太赫兹光谱测量样品架
摘要：	本实用新型提供了一种太赫兹光谱测量样品架，包括样品固定座和升降伸缩台，所述样品固定座通过三根螺杆分别与该升降伸缩台的三个臂相连，该升降伸缩台与一步进电机电连接；其中，所述升降伸缩台为三维升降台。本实用新型的太赫兹光谱测量样品架采用三维的升降伸缩台，可以实现样品位置的上下、左右、前后位置的移动，对同一样品可以连续多次测量三维方向上的不同位点，获得样品多个区域信号，多次测量的平均能够更加真实获得样品的吸收、折射率等信息，从而提高测量效率，减小测量误差，进而真实地反应样品分布特点，还能够对样品的均匀性进行评价；此外，本实用新型样品架的移动位置可以通过电机实现精确调节和自动控制。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	中国科学院上海应用物理研究所
发明人：	朱中杰;赵红卫;张建兵
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201920112767.1
公开号：	CN209513593U
代理机构：	上海智信专利代理有限公司
代理人：	邓琪
分类号：	G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号
主权项：	1.一种太赫兹光谱测量样品架，用于太赫兹光谱测量系统，其特征在于，包括样品固定座(1)和升降伸缩台(2)，所述样品固定座(1)通过三根螺杆(5)分别与该升降伸缩台(2)的三个臂(21)相连，该升降伸缩台(2)与一步进电机(3)电连接；其中，所述升降伸缩台(2)为三维升降台。 2.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述步进电机(3)上设有用于切换升降伸缩台(2)的移动方向和步长的控制开关(31)。 3.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品固定座(1)包括一槽状的底座(11)以及设置于底座(11)中的样品放置皿(12)。 4.根据权利要求3所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品放置皿(12)的中央位置处具有一样品腔(121)。 5.根据权利要求4所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品腔(121)的四周设有标尺(6)。 6.根据权利要求4所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述样品腔(121)位于所述太赫兹光谱测量系统的光路的光轴上。 7.根据权利要求3所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述底座(11)采用不锈钢板、铝合金或者铜板制成。 8.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述升降伸缩台(2)的移动方向包括相对于所述太赫兹光谱测量系统的光路的光轴的左右、上下、前后移动。 9.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测量样品架，其特征在于，所述升降伸缩台(2)通过一连接线(4)与所述步进电机(3)电连接。
所属类别：	实用新型