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一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置
| 专利名称： | 一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 |
| 摘要： | 本实用新型涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构，所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接，所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器，所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本实用新型所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京农业信息技术研究中心 |
| 发明人： | 李斌;罗长海;张永珍;王姝言;孙晓冬 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820945938.4 |
| 公开号： | CN208255051U |
| 代理机构： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
| 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 分类号： | G01N21/3563(2014.01)I;G01N21/3581(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3563;G01N21/3581 |
| 申请人地址： | 100097 北京市海淀区曙光花园中路11号农科大厦A座1107 |
| 主权项： | 1.一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：包括箱体、设置在所述箱体中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体上的数据测量采集机构、智能驱动执行机构和主控机构；其中所述研磨机构包括自动伸缩杆、与所述自动伸缩杆垂直连接的固定杆、分别与所述固定杆的两端对应连接的两个研磨球以及设置在所述研磨球下方的研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接；所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构；所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构；所述数据测量采集机构与所述主控机构电性连接，所述主控机构与所述智能驱动执行机构电性连接。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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