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一种实现图像自校正的X射线图像探测器及其方法
| 专利名称： | 一种实现图像自校正的X射线图像探测器及其方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种实现图像自校正的X射线图像探测器及其方法。该探测器包括第一检测装置、第二检测装置及信号处理装置；第一检测装置与第二检测装置用于获取不同管电压产生的X射线穿过预定厚度材料的X射线强度；信号处理装置根据第一检测装置与第二检测装置获取的X射线强度的比值，得到X射线管的管电压，调用暗场模板图及与管电压对应的增益校正模板对所采集的初始数字图像进行校正。本X射线图像探测器不仅分担了现有计算机工作站的图像处理工作，还能够对当前管电压下产生的数字图像进行校正，大大提高了输出图像的质量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京纳米维景科技有限公司 |
| 发明人： | 崔志立;魏青 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810850624.0 |
| 公开号： | CN108918559A |
| 代理机构： | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 |
| 代理人： | 陈曦;贾兴昌 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G01T1/202(2006.01)I;G;G01;G01N;G01T;G01N23;G01T1;G01N23/04;G01T1/202 |
| 申请人地址： | 100094 北京市海淀区北清路68号院用友产业园西区1号楼一层1-06 |
| 主权项： | 1.一种实现图像自校正的X射线图像探测器，其特征在于包括第一检测装置、第二检测装置及信号处理装置；所述第一检测装置与所述第二检测装置用于获取不同管电压产生的X射线穿过预定厚度材料的X射线强度；所述信号处理装置根据所述第一检测装置与所述第二检测装置获取的X射线强度的比值，得到X射线管的管电压，调用暗场模板图及与所述管电压对应的增益校正模板对所采集的初始数字图像进行校正。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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