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原文传递 单幅X射线微分相衬图像探测系统
专利名称: 单幅X射线微分相衬图像探测系统
摘要: 本发明公开了一种单幅X射线微分相衬图像探测系统,按X射线传播方向依次设置有X射线转换屏、耦合装置和可见光探测器,所述X射线转换屏为像素化转换屏,像素单元排布与成像系统的X射线干涉条纹周期配合;或是按X射线传播方向依次设置有吸收光栅、X射线转换屏和可见光探测器,所述吸收光栅在行方向和列方向上通过多个周期单元排布形成,周期单元为矩形,周期单元宽度和成像系统的X射线干涉条纹周期宽度相同。本发明无需物体多次曝光并移动相位光栅,简化了X射线微分相衬成像的相位获取流程,能够实现快速X射线相位衬度成像,从而提高成像效率。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 深圳大学
发明人: 刘鑫;王翔;黄建衡;雷耀虎;郭金川;李冀
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201710682198.X
公开号: CN107621473A
代理机构: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314
代理人: 张秋红;张约宗
分类号: G01N23/20(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20
申请人地址: 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号
主权项: 一种单幅X射线微分相衬图像探测系统,按X射线传播方向依次设置有X射线转换屏、耦合装置和可见光探测器,其特征在于,所述X射线转换屏为像素化转换屏,所述像素化转换屏包括多个像素单元,像素单元排布与成像系统的X射线干涉条纹周期配合。
所属类别: 发明专利
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