专利名称: |
X射线光栅相衬成像系统及方法 |
摘要: |
一种X射线光栅相衬成像系统及方法,包括:X射线发射装置,向被
检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束发射方向
上,被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度
变化的X射线信号;检测单元,用于接收强度变化的X射线,并转换为
电信号;以及数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利
用折射角信息计算出像素信息;成像单元,用于构建物体的图像。另外,
还可利用一旋转结构,旋转物体实现CT成像模式,获得多个投影方向
的折射角及相应图像,并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射
率断层图像。本发明使用通常的X光机,以及十微米量级以上周期的光
栅实现近分米量级视场的相衬成像。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
发明人: |
康克军;黄志峰;张 丽;陈志强;李元景;刘以农;赵自然;刑宇翔 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2008-02-04T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200810005766.3 |
公开号: |
CN101576515 |
代理机构: |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人: |
谭祐祥 |
分类号: |
G01N23/083(2006.01)I |
申请人地址: |
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
主权项: |
1.一种X射线光栅相衬成像系统,用于对物体进行透视成像,该系
统包括:
X射线发射装置,用于向被检测物体发射X射线束;
第一和第二吸收光栅,位于X射线束的发射方向上,用于取得X射线
束经过物体的折射角信息;
检测单元,位于被检测物体和所述第一、第二吸收光栅的后面,用
于接收经所述经被检测物体折射的X射线,并将其转换为可识别的电信
号;以及
数据处理单元,用于处理所述电信号并从其中计算出X射线束在所
述物体的各平面位置处的折射角信息;
成像单元,用于重建物体的图像。 |
所属类别: |
发明专利 |