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原文传递 X射线光栅相衬成像系统及方法
专利名称: X射线光栅相衬成像系统及方法
摘要: 一种X射线光栅相衬成像系统及方法,包括:X射线发射装置,向被 检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束发射方向 上,被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度 变化的X射线信号;检测单元,用于接收强度变化的X射线,并转换为 电信号;以及数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利 用折射角信息计算出像素信息;成像单元,用于构建物体的图像。另外, 还可利用一旋转结构,旋转物体实现CT成像模式,获得多个投影方向 的折射角及相应图像,并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射 率断层图像。本发明使用通常的X光机,以及十微米量级以上周期的光 栅实现近分米量级视场的相衬成像。
专利类型: 发明专利
申请人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
发明人: 康克军;黄志峰;张 丽;陈志强;李元景;刘以农;赵自然;刑宇翔
专利状态: 有效
申请日期: 2008-02-04T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200810005766.3
公开号: CN101576515
代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
代理人: 谭祐祥
分类号: G01N23/083(2006.01)I
申请人地址: 100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项: 1.一种X射线光栅相衬成像系统,用于对物体进行透视成像,该系 统包括: X射线发射装置,用于向被检测物体发射X射线束; 第一和第二吸收光栅,位于X射线束的发射方向上,用于取得X射线 束经过物体的折射角信息; 检测单元,位于被检测物体和所述第一、第二吸收光栅的后面,用 于接收经所述经被检测物体折射的X射线,并将其转换为可识别的电信 号;以及 数据处理单元,用于处理所述电信号并从其中计算出X射线束在所 述物体的各平面位置处的折射角信息; 成像单元,用于重建物体的图像。
所属类别: 发明专利
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