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原文传递双能X射线光栅干涉成像系统及方法

专利名称：	双能X射线光栅干涉成像系统及方法
摘要：	本发明提供一种双能X射线光栅干涉成像系统及方法，具备：具有一定相干性能通过调节产生预定的两种不同能量X射线的光源；能对预定的两种不同能量的X射线产生相同的相位移动的双能相位光栅，从而在双能相位光栅后相同位置产生同样的周期性竖状条纹；分辨率优于竖状条纹的周期的X射线探测器，光源为平行光，从光源入射X射线的方向依次配置待测样品、双能相位光栅和探测器。根据本发明，针对上述问题，本发明的目的在于提供一种双能X射线光栅干涉成像系统及方法，可实现双能光栅干涉成像，从而能获取样品两个能量下的线性衰减因子、相移因子、散射因子等信息，可有效进行物质鉴别、缺陷诊断等。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	中国工程物理研究院流体物理研究所
发明人：	邓锴;谢卫平;李晶;袁建强
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-30T00:00:00+0800
申请号：	CN201910199388.5
公开号：	CN110068585A
代理机构：	上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	曹芳玲;邹蕴
分类号：	G01N23/20(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	621999 四川省绵阳市绵山路64号
主权项：	1.一种双能X射线光栅干涉成像系统，其特征在于，具备：具有一定相干性能通过调节产生预定的两种不同能量X射线的光源；能对所述预定的两种不同能量的X射线产生相同的相位移动的双能相位光栅，从而在所述双能相位光栅后相同位置产生同样的周期性竖状条纹；分辨率优于所述竖状条纹的周期的X射线探测器，所述光源为平行光，从所述光源入射X射线的方向依次配置所述待测样品、所述双能相位光栅和所述探测器。 2.根据权利要求1所述的双能X射线光栅干涉成像系统，其特征在于，若所述探测器具有能够分辨两个能点能量的分辨率，则所述光源为涵盖两个能点能量的宽谱X射线源，且无需具备产生预定的两种不同能量X射线的能力。 3.根据权利要求1所述的双能X射线光栅干涉成像系统，其特征在于，所述光源为同步辐射光源、或微焦点X射线源。 4.根据权利要求1所述的双能X射线光栅干涉成像系统，其特征在于，使用所述分析光栅在所述探测器前方步进扫描检波。 5.一种根据权利要求1至4中任意一项所述的双能X射线光栅干涉成像系统的工作方法，其特征在于，包括： 1）将X射线光源、双能相位光栅和探测器依次放入光路； 2）调节双能相位光栅和探测器的角度和位置以满足规定条件； 3）在未放置待测样品的状态下，打开光源，记录竖状条纹图像u1； 4）放入待测样品，打开光源，记录竖状条纹图像u2； 5）改变X射线源的能谱，使之分别包含高低能点，重复步骤2到4两遍，以获得u1（EL）、u2（EL）、u1（EH）、u2（EH），通过算法计算条纹的整体强度变化、扭曲和模糊，获得多衬度图像，其中EL为低能点，EH为高能点。 6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，使用具有能够分辨两个能点能量的分辨率的X射线探测器，则直接比较高低两个能段下探测器记录的结果，以获得u1（EL）与u2（EL），以及u1（EH）与u2（EH），通过算法计算条纹的整体强度变化、扭曲和模糊，获得多衬度图像。
所属类别：	发明专利