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一种无损检测的方法、装置、设备可读存储介质
| 专利名称： | 一种无损检测的方法、装置、设备可读存储介质 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种无损检测的方法、装置、设备和可读存储介质。所述方法包括：获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据；根据所述红外辐射量关联数据，确定与所述每个位置点对应的辐射量时间关联曲线；使用所述辐射量时间关联曲线对设定时间因子进行求导，得到与所述每个位置点对应的导数曲线，并分别计算与各所述导数曲线对应的极值点；根据与所述每个位置点对应的所述极值点，确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度。本发明实施例的技术方案可以解决非金属材料粘接交界面处空气间隙的红外无损检测问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 重庆大学 |
| 发明人： | 成立;张思达;廖瑞金;杨丽君;郭晨鋆 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810053790.8 |
| 公开号： | CN108387609A |
| 代理机构： | 北京品源专利代理有限公司 11332 |
| 代理人： | 孟金喆 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/72 |
| 申请人地址： | 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号重庆大学 |
| 主权项： | 1.一种无损检测的方法，其特征在于，包括：获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据；根据所述红外辐射量关联数据，确定与所述每个位置点对应的辐射量时间关联曲线；使用所述辐射量时间关联曲线对设定时间因子进行求导，得到与所述每个位置点对应的导数曲线，并分别计算与各所述导数曲线对应的极值点；根据与所述每个位置点对应的所述极值点，确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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