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一种薄膜热收缩率的自动测量方法
| 专利名称： | 一种薄膜热收缩率的自动测量方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种薄膜热收缩率的自动测量方法，包括：将薄膜样品采用基于负压吸附法的薄膜固定夹具进行固定，利用工业相机采集光源系统照明下的薄膜样品图像；利用图像处理分析系统对获取的薄膜样品图像进行预处理，去除薄膜图像中的干扰和噪声；通过图像分析系统识别薄膜样品图像边界，测量边界长度并进行数据优化；按照步骤(1)‑(3)，分别测量烘烤前和烘烤后的薄膜样品边界长度。本发明利用负压吸附原理解决薄膜难易快速固定的难题，利用计算机视觉技术，实现薄膜加热前后长度的自动测量，并快速准确的计算出薄膜的热收缩率，符合行业标准且准确、可靠。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 安徽;34 |
| 申请人： | 中国科学院合肥物质科学研究院;合肥众沃仪器技术有限公司 |
| 发明人： | 刘勇;张龙;花昌义;李志刚;王澍;吴晓松;贾琳;卢春 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810462258.1 |
| 公开号： | CN108918579A |
| 代理机构： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
| 代理人： | 安丽;成金玉 |
| 分类号： | G01N25/16(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N25;G01B11;G01N25/16;G01B11/02 |
| 申请人地址： | 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号 |
| 主权项： | 1.一种薄膜热收缩率的自动测量方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将薄膜样品采用基于负压吸附法的薄膜固定夹具固定，利用工业相机采集光源系统照明下的薄膜样品图像；(2)利用图像处理分析系统对获取的薄膜样品图像进行预处理，去除薄膜图像中的干扰和噪声；(3)通过图像分析系统识别薄膜样品图像边界，测量边界长度并进行数据优化；(4)按照步骤(1)‑(3)，分别测量烘烤前和烘烤后的薄膜样品边界长度；(5)根据热收缩率计算公式，分别计算出薄膜纵向和横向两个方向的热收缩率。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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