详情

原文传递一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法

专利名称：	一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法
摘要：	本发明提出一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，本发明所涉及的测量方法，先根据荧光薄膜的激发光谱波段范围和发射光谱波段范围，选择合适波长的截止滤光片，通过在探测器前放置合适波长的截止滤光片，可以将从样品出来的光中的荧光发射部分滤除掉，从而获得荧光薄膜准确的透射率或反射率曲线；本发明操作简便，测量准确度高，适用面广，既适用于下转换荧光薄膜，也适用于上转换荧光薄膜，即适用于测量荧光薄膜的透射率，也适用于测量荧光薄膜的反射率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海理工大学
发明人：	韩朝霞;倪争技;田程;张大伟;韩军强;林辉;洪瑞金;陶春先;黄元申;黄卫佳
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201910314687.9
公开号：	CN109946282A
代理机构：	上海邦德专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	余昌昊
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	200093 上海市杨浦区军工路516号
主权项：	1.一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：确定荧光薄膜的激发光谱波段范围及发射光谱波段范围；步骤2：根据所述激发光谱波段范围及所述发射光谱波段范围选取合适波长的截止滤光片；步骤3：将所述截止滤光片置于探测器前，测量短波波段的透射率或反射率光谱曲线或者长波波段的透射率或反射率光谱曲线；步骤4：取出所述截止滤光片，校准所述探测器，以测量另一波段的透射率或反射率光谱曲线；步骤5：将测得的所述短波波段的透射率或反射率光谱曲线与所述长波波段的透射率或反射率光谱曲线组合，即获得完整波段的透射率或反射率光谱曲线。 2.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤1中，所述激发光谱波段范围及所述发射光谱波段范围为已知范围或者通过三维荧光光谱仪进行测定。 3.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤2中，所述截止滤光片的合适波长位于所述激发光谱范围及所述发射光谱波段范围之间。 4.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤2中，所述截止滤光片包括长波通滤光片和短波通滤光片。 5.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤3中，所述荧光薄膜为下转换荧光薄膜时，所述截止滤光片为短波通滤光片，将所述短波通滤光片置于探测器前测量所述短波波段的透射率或反射率光谱曲线。 6.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤3中，所述短波波段指波长比所述截止滤光片的截止波长小的波段。 7.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤3中，所述荧光薄膜为上转换荧光薄膜时，所述截止滤光片为长波通滤光片，将所述长波通滤光片置于所述探测器前测量所述长波波段的透射率或反射率光谱曲线。 8.根据权利要求1所述的用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，其特征在于，在步骤3中，所述长波波段指波长比所述截止滤光片的截止波长大的波段。
所属类别：	发明专利