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海底底质反射率测量装置及测量方法
| 专利名称： | 海底底质反射率测量装置及测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种海底底质反射率测量装置及测量方法，包括光谱探头、第一白板、第二白板、测距仪和转轴；第一白板和第二白板的反射率已知，第一白板和第二白板以沿转轴轴向具有间距、且沿转轴径向相互错开的方式连接在转轴上；光谱探头用于获取第一白板、第二白板和海底底质的光谱数据；测距仪用于获取第一白板与海底底质之间的间距数据；转轴用于带动第一白板和第二白板转动，使得第一白板、第二白板依次处于光谱探头的正前方。本发明只采用一个光谱探头就可实现对海底地质反射率的测量，进而可实现海草和珊瑚健康状况的监测，其制作和运行成本低，并在一定程度上解决了因光谱探头差异性导致测量偏差的问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中国科学院南海海洋研究所 |
| 发明人： | 许占堂;赵俊;杨跃忠;李彩;周雯;曾凯;曹文熙 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810325604.1 |
| 公开号： | CN108458993A |
| 代理机构： | 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 |
| 代理人： | 周友元;刘明星 |
| 分类号： | G01N21/55(2014.01)I;G01N21/15(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/55;G01N21/15 |
| 申请人地址： | 510301 广东省广州市海珠区新港西路164号 |
| 主权项： | 1.一种海底底质反射率测量装置，其特征在于：包括光谱探头(1)、第一白板(2)、第二白板(3)、测距仪(4)和转轴(5)；第一白板(2)和第二白板(3)的反射率已知，第一白板(2)和第二白板(3)以沿转轴(5)轴向具有间距、且沿转轴(5)径向相互错开的方式连接在转轴(5)上；光谱探头(1)用于获取第一白板(2)、第二白板(3)和海底底质(12)的光谱数据；测距仪(4)用于获取光谱探头(1)与海底底质(12)之间的间距数据；转轴(5)用于带动第一白板(2)和第二白板(3)转动，使得第一白板(2)、第二白板(3)依次处于光谱探头(1)的正前方。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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