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同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法
| 专利名称： | 同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB离子肼质谱仪、计算机设备和存储介质，其中质谱获得方法包括以下步骤：将待检测样品通过一系列装置电离成离子后引入离子肼；调节离子肼射频分压比，在即正扫时引入负多级场，在反扫时引入正多级场，将离子都逐出至离子检测装置检测离子，在正扫时，生成第一二级质谱；在反扫时，生成第二二级质谱。该方法测定简单且准确。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 广州禾信仪器股份有限公司 |
| 发明人： | 孙露露;侯志辉;陈伟章;其他发明人请求不公开姓名 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810697710.2 |
| 公开号： | CN108918645A |
| 代理机构： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
| 代理人： | 陈金普 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
| 申请人地址： | 510530 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城开源大道11号A3栋第三层 |
| 主权项： | 1.一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法，用于PCB分压离子肼质谱仪，其特征在于，包括以下步骤：依次通过所述PCB分压离子肼质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子肼，其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质；在所述PCB分压离子肼质谱仪为正离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入负多级场，将所述PCB分压离子肼中的待检测样品离子逐出至PCB分压离子肼质谱仪的离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱；在所述PCB分压离子肼质谱仪为负离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入正多级场，将所述PCB分压离子肼中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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