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原文传递 基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析方法
专利名称: 基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析方法
摘要: 一种基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析方法,包括如下步骤:1)先利用可见光激光器进行系统光轴校准,校准完成后将发出不可见的X射线辐射的X射线光管移入系统光轴;2)利用基于组合X射线毛细管器件形成荧光探测微束;3)X射线光照射在所述组合X射线毛细管器件上,位于不同位置的每一个X射线毛细管透镜分别对入射其的那部分X射线光聚焦,多个焦斑的叠加最终形成X射线探测微束,并照射到样品台上的被检样品;4)所述X射线探测器贴近样品台上的被测样品放置,收集X射线探测微束照射被测样品所产生的二次荧光,并送入信息采集分析模块进行荧光分析。本发明同时具备高微区分辨率和高探测灵敏度,并可进行现场分析。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 浙江工业大学
发明人: 乐孜纯;董文
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810366512.8
公开号: CN108398450A
代理机构: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人: 王利强
分类号: G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223
申请人地址: 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号
主权项: 1.一种基于组合X射线毛细管的微束X射线荧光分析方法,其特征在于,实现所述方法的系统包括X射线光管、可见光激光器、组合X射线毛细管器件、样品台和X射线探测器及其信息采集分析模块,所述X射线光管或可见光激光器均和组合X射线毛细管器件、样品台的被测样品位于同一光轴上,所述X射线探测器贴近被测样品放置;所述微束X射线荧光分析方法包括如下步骤:1)因X射线辐射不可见,先利用可见光激光器进行系统光轴校准,所述可见光激光器用于校准,校准完成后,将发出不可见的X射线辐射的X射线光管移入系统光轴,同时可见光激光器移出系统光轴;2)利用基于组合X射线毛细管器件形成荧光探测微束,所述X射线探测器与信息采集分析模块相连;所述组合X射线毛细管器件包括2个以上X射线毛细管透镜和组合X射线毛细管机械紧固件,所述X射线毛细管透镜是一种基于反射效应的X射线聚光器件,能够对多波长X射线辐射进行二维聚焦,形成点状聚焦焦斑;所述X射线毛细管透镜入射端尺寸大于出射端尺寸,其出射端到焦斑的尺寸称为X射线毛细管透镜的后焦距;所述组合X射线毛细管机械紧固件起固定X射线毛细管透镜的作用,依据组合X射线毛细管器件的组合布局,在其内部安置并固定2个以上X射线毛细管透镜;3)X射线光照射在所述组合X射线毛细管器件上,位于不同位置的每一个X射线毛细管透镜分别对入射其的那部分X射线光聚焦,多个焦斑的叠加最终形成X射线探测微束,并照射到样品台上的被检样品;4)所述X射线探测器贴近样品台上的被测样品放置,收集X射线探测微束照射被测样品所产生的二次荧光,并送入信息采集分析模块进行荧光分析。
所属类别: 发明专利
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