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原文传递 基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统
专利名称: 基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统
摘要: 一种基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统,包括X射线光管、可见光激光器、X射线阵列组合折射透镜集成组件、样品台、X射线探测器及其信息采集分析模块,所述X射线光管或可见光激光器均和X射线阵列组合折射透镜集成组件、样品台的被测样品位于同一光轴上,所述X射线探测器贴近被测样品放置,所述X射线探测器与信息采集分析模块相连。本发明提供一种同时具备高微区分辨率和高灵敏度,并可进行现场分析的小型化微束X射线荧光分析系统。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 浙江工业大学
发明人: 乐孜纯;董文
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810366527.4
公开号: CN108709899A
代理机构: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人: 王利强
分类号: G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223
申请人地址: 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号
主权项: 1.一种基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统,其特征在于,所述系统包括X射线光管、可见光激光器、X射线阵列组合折射透镜集成组件、样品台、X射线探测器及其信息采集分析模块,所述X射线光管或可见光激光器均和X射线阵列组合折射透镜集成组件、样品台的被测样品位于同一光轴上,所述X射线探测器贴近被测样品放置,所述X射线探测器与信息采集分析模块相连;所述X射线阵列组合折射透镜集成组件包括用于进行X射线光束第一次整形和滤波的X射线光阑、用于进行X射线光束第二次整形为类平行光的X射线折光器和用于对入射的多个X射线子光束分别进行聚焦的X射线阵列组合透镜,所述X射线光阑、X射线折光器和X射线阵列组合折射透镜依次位于微束X射线荧光分析系统的光轴上,所述X射线阵列组合折射透镜的阵列结构布局,保证每一个子光束所形成的聚焦焦斑在同一位置并位于光轴上。
所属类别: 发明专利
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