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原文传递 一种光器件引脚焊接质量检测方法及装置
专利名称: 一种光器件引脚焊接质量检测方法及装置
摘要: 本发明涉及一种光器件引脚焊接质量检测方法,包括以下步骤:获取光器件的引脚焊接位置处的图像信息,并对图像信息进行二值化处理得到二值化图像信息;搜索二值化图像信息中的目标像素,获取由目标像素所组成的位于图像信息内的所有连通区域;获取各连通区域对应的外接矩形;根据标准焊接引脚的尺寸对外接矩形进行筛选,得到与光器件的焊接引脚一一对应的多个目标外接矩形,分别计算各目标外接矩形的中心点坐标,根据每个中心点坐标计算各中心点之间的位置关系;将位置关系与光器件各引脚之间的标准位置关系模板进行比对,当二者的比对误差在设定误差范围之内时判定光器件的引脚焊接合格。本发明提供的检测方法效率高、准确率高。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 湖北第二师范学院
发明人: 宋婉娟;杨莉;胡罗凯;邓芳
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810427468.7
公开号: CN108426891A
代理机构: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212
代理人: 杨立;李航
分类号: G01N21/892(2006.01)I;B07C5/342(2006.01)I;H05K13/08(2006.01)I;G;B;H;G01;B07;H05;G01N;B07C;H05K;G01N21;B07C5;H05K13;G01N21/892;B07C5/342;H05K13/08
申请人地址: 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新二路129号
主权项: 1.一种光器件引脚焊接质量检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、获取光器件的引脚焊接位置处的图像信息,并对所述图像信息进行二值化处理,得到二值化图像信息;步骤S2、搜索所述二值化图像信息中的目标像素,获取由所述目标像素所组成的位于所述图像信息对应的图像内的所有连通区域;步骤S3、获取各所述连通区域对应的外接矩形;步骤S4、根据标准焊接引脚的尺寸对所述外接矩形进行筛选,得到与光器件的焊接引脚一一对应的多个目标外接矩形,分别计算各所述目标外接矩形的中心点坐标,根据每个所述中心点坐标计算各中心点之间的位置关系;步骤S5、将所述位置关系与光器件各引脚之间的标准位置关系模板进行比对,当二者的比对误差在设定误差范围之内时判定光器件的引脚焊接合格。
所属类别: 发明专利
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