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原文传递一种玻璃基板缺陷聚集识别方法

专利名称：	一种玻璃基板缺陷聚集识别方法
摘要：	本发明提供一种玻璃基板缺陷聚集识别方法，能够在制造玻璃基板的过程中进行缺陷聚集检测识别，从而及时发现问题，排出故障，以在实际生产中控制玻璃基板质量。识别方法包括：将玻璃基板的检测影像置于一个坐标系中，为玻璃基板上的各缺陷建立缺陷矩形框，各缺陷矩形框为相应缺陷的最小外接矩形；为各缺陷建立包含对应缺陷矩形框的聚集矩形框；当一个缺陷的聚集矩形框与另一个缺陷的缺陷矩形框相切或相交时，判定该两个缺陷相关联；如果相关联的缺陷数等于或大于根据玻璃基板精度要求设定的判定聚集的最小关联缺陷数，则这些缺陷被判定为聚集，否则，不属于聚集。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	陕西;61
申请人：	彩虹显示器件股份有限公司
发明人：	焦宗平;王刚
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810098295.9
公开号：	CN108445020A
代理机构：	西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人：	徐文权
分类号：	G01N21/958(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/958
申请人地址：	712021 陕西省咸阳市秦都区玉泉西路西延段
主权项：	1.一种玻璃基板缺陷聚集识别方法，其特征在于，包括如下步骤，步骤1，将玻璃基板的检测影像置于一个坐标系中，为玻璃基板上的各缺陷建立缺陷矩形框，各缺陷矩形框为相应缺陷的最小外接矩形；为各缺陷建立包含对应缺陷矩形框的聚集矩形框，各聚集矩形框通过根据玻璃基板精度要求设定的横向参数和纵向参数表示，横向参数为聚集矩形框与相应缺陷矩形框对应边的横向距离，纵向参数为聚集矩形框与相应缺陷矩形框对应边的纵向距离；步骤2，判定缺陷是否聚集，当一个缺陷的聚集矩形框与另一个缺陷的缺陷矩形框相切或相交时，判定该两个缺陷相关联；如果相关联的缺陷数等于或大于根据玻璃基板精度要求设定的判定聚集的最小关联缺陷数，则这些缺陷被判定为聚集，否则，不属于聚集。
所属类别：	发明专利