专利名称: |
一种衰减全反射式太赫兹光谱测量探头 |
摘要: |
本发明公开了一种衰减全反射式太赫兹光谱测量探头,探头实体由上椭圆面、下椭圆面、圆形平面、上锥面和下锥面组成,上锥面上设置有上椭圆面左焦点,太赫兹发射源设置在上椭圆面左焦点上,下锥面上设置有下椭圆面左焦点,太赫兹探测器设置在下椭圆面左焦点上,圆形平面的圆心上设置有上下椭圆面右焦点,圆形平面上设有中央测量窗口;本发明采用一体式光学设计,有效提高探头工作的稳定性;太赫兹波束在探头实体内部传输,且探头实体外表面涂覆金属膜,可有效避免空气水汽等环境因素对测量结果的不良影响;太赫兹波束在测量界面处为会聚光斑,有效提高功率密度,提升测量信噪比,减小对测量样品的接触表面积要求。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
华中光电技术研究所(中国船舶重工集团公司第七一七研究所) |
发明人: |
袁英豪;姚远;洪普;李长庚;周正 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201710649298.2 |
公开号: |
CN107664626A |
代理机构: |
武汉凌达知识产权事务所(特殊普通合伙) 42221 |
代理人: |
刘念涛;宋国荣 |
分类号: |
G01N21/3581(2014.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3581;G01N21/01 |
申请人地址: |
430070 湖北省武汉市洪山区雄楚大街981号 |
主权项: |
一种衰减全反射式太赫兹光谱测量探头,其特征在于:包括探头实体(1)、太赫兹发射源(2)和太赫兹探测器(3),所述的探头实体(1)由上椭圆面(11)、下椭圆面(14)、位于后侧的圆形平面(15)以及位于前方的上锥面(12)和下锥面(13)组成,所述的上锥面(12)和下锥面(13)的夹角为90°,所述的上锥面(12)上设置有上椭圆面左焦点(4),所述的太赫兹发射源(2)设置在上椭圆面左焦点(4)上,所述的下锥面(13)上设置有下椭圆面左焦点(5),所述的太赫兹探测器(3)设置在下椭圆面左焦点(5)上,所述的圆形平面(15)的圆心上设置有上下椭圆面右焦点(6),所述的圆形平面(15)上位于上下椭圆面右焦点(6)处设置有中央测量窗口。 |
所属类别: |
发明专利 |