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基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法
| 专利名称： | 基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法 |
| 摘要： | 本发明提出的一种基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法，首次开启甲基卡型锂矿的波谱研究，运用地物波谱仪对岩芯样品进行波谱测试，建立甲基卡矿床的典型岩石及矿物的波谱库，总结围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶等的波谱特征，建立锂含量定量反演模型，为含锂辉石伟晶岩找矿研究奠定了基础。包括以下步骤：1)对样品进行波谱测量；2)分析样品所含各类岩石的波谱特征，得出围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征；3)分析围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征，寻找含锂辉石伟晶岩的指示意义波段；4)建立识别含锂辉石伟晶岩的定量反演模型。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国地质科学院矿产资源研究所 |
| 发明人： | 代晶晶 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810307415.1 |
| 公开号： | CN108931546A |
| 代理机构： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 |
| 代理人： | 吴小灿 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 100037 北京市西城区百万庄大街26号 |
| 主权项： | 1.一种基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法，其特征在于，包括以下步骤：1)对样品进行波谱测量；2)分析样品所含各类岩石的波谱特征，得出围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征；3)分析围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征，寻找含锂辉石伟晶岩的指示意义波段；4)建立识别含锂辉石伟晶岩的定量反演模型。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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