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原文传递一种荧光X射线吸收谱探测器

专利名称：	一种荧光X射线吸收谱探测器
摘要：	本发明创造提供了一种荧光X射线吸收谱探测器，包括实验样品仓，实验样品仓前端设置两个一维狭缝结构，第二个一维狭缝结构与第一个一维狭缝结构成90°叠放，一维狭缝结构后端设置大面积半导体光电二极管探测器，一维狭缝结构包括铝框，铝框内安装有若干叶片，其中叶片的安装与焦点的射线方向重合，焦点为狭缝到样品的距离；大面积半导体光电二极管探测器包括铝壳体，光电二极管固定于铝壳体，并通过BNC信号引出插座输出电信号。本发明创造将两个一维狭缝结构成90°组合则具有二维狭缝的作用，提高了效荧光的通过效率；本发明创造探测效率高，检测灵敏度高，结构简单，制作简单，成本低。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	天津敬慎坊科技有限公司
发明人：	谢亚宁
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810715759.6
公开号：	CN108469446A
代理机构：	天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226
代理人：	韩敏
分类号：	G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223
申请人地址：	301700 天津市武清区开发区福源道18号549室-18（集中办公区）
主权项：	1.一种荧光X射线吸收谱探测器，其特征在于：包括实验样品仓，实验样品仓前端设置两个一维狭缝结构，其中，第二个一维狭缝结构与第一个一维狭缝结构成90°叠放，一维狭缝结构后端设置大面积半导体光电二极管探测器，用于将光信号转换成电信号输出。
所属类别：	发明专利