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原文传递一种激光物证仪

专利名称：	一种激光物证仪
摘要：	本实用新型涉及一种激光物证仪，包括半导体激光器阵列、快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器，其中，半导体激光器阵列包括若干半导体激光器，半导体激光器按照m×n二维阵列布置；快轴激光准直镜和慢轴激光准直镜分别包括m个和n个相互平行设置的柱面镜；快、慢轴激光准直镜以及激光匀化器依次设置在半导体激光器阵列的光路上，快轴激光准直镜中的柱面镜与慢轴激光准直镜中的柱面镜相互垂直，且柱面镜分别对应半导体激光器阵列中的一行或一列半导体激光器，激光匀化器用于使激光均匀分布；本激光物证仪，结构紧凑，可以实现高功率，激光束的准直及合成效果好，并且可以获得高均匀度的平顶激光照明光斑。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	成都自序电子科技有限公司
发明人：	杨伟
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201820878687.2
公开号：	CN208206801U
代理机构：	北京市领专知识产权代理有限公司 11590
代理人：	张玲;代平
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G02B27/09(2006.01)I;G;G01;G02;G01N;G02B;G01N21;G02B27;G01N21/64;G02B27/09
申请人地址：	610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府五街200号1号楼3层A、B区
主权项：	1.一种激光物证仪，其特征在于，包括半导体激光器阵列、快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器，其中，所述半导体激光器阵列包括若干半导体激光器，所述半导体激光器按照m×n二维阵列布置，m和n均为正整数；所述快轴激光准直镜包括m个相互平行设置的柱面镜，所述慢轴激光准直镜包括n个相互平行设置的柱面镜；所述快轴激光准直镜、慢轴激光准直镜以及激光匀化器依次设置在所述半导体激光器阵列的光路上，快轴激光准直镜中的柱面镜与慢轴激光准直镜中的柱面镜相互垂直，且所述柱面镜分别对应所述半导体激光器阵列中的一行或一列半导体激光器，所述快轴激光准直镜及慢轴激光准直镜分别用于对半导体激光器的快轴和慢轴进行准直，所述激光匀化器用于使激光均匀分布。
所属类别：	实用新型