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原文传递一种激光物证勘查仪

专利名称：	一种激光物证勘查仪
摘要：	本实用新型涉及一种激光物证勘查仪，包括基板、激光器阵列、准直器以及透镜，所述激光器阵列包括若干激光器，所述激光器均为半导体激光器，所述激光器阵列中的半导体激光器可以按照m×n二维阵列方式设置在所述基板上，或按照正三角形排列设置在所述基板上，或按照等腰三角形排列设置在所述基板上，半导体激光器产生的激光经所述准直器准直之后，从所述透镜射出；本激光物证勘查仪采用半导体激光器阵列作为激光光源，能够获得较窄的光谱线宽，并具有较高的电光转换效率不仅可使得杂光干扰小、物证勘察荧光效应明显，而且结构紧凑、体积小巧，在实际使用过程中勘察能力出众且便携性强。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	成都自序电子科技有限公司
发明人：	杨伟
专利状态：	有效
申请号：	CN201820878042.9
公开号：	CN208366847U
代理机构：	北京市领专知识产权代理有限公司 11590
代理人：	张玲;代平
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府五街200号1号楼3层A、B区
主权项：	1.一种激光物证勘查仪，其特征在于，包括基板、激光器阵列、准直器以及透镜，所述激光器阵列包括若干激光器，所述激光器均为半导体激光器，所述激光器阵列设置在所述基板上，半导体激光器产生的激光经所述准直器准直之后，从所述透镜射出。
所属类别：	实用新型