专利名称: |
基于激光和压强调制的固态纳米孔穿孔控制方法 |
摘要: |
本申请实施例公开了基于激光和压强调制的固态纳米孔穿孔控制方法,该方法的一具体实施方式包括:进行固态纳米孔芯片的微纳制备;对该固态纳米孔芯片进行水下浸润,搭建集成共聚焦光学系统的纳米孔芯片测试系统;采用激光辐照该固态纳米孔芯片的固态膜表面,通过离子电流变化确定该固态纳米孔芯片的纳米孔位置;改变控制条件,对探测物穿孔进行控制,当所述纳米孔出现堵孔情况时,对该纳米孔进行激光辐照以分解和清理污染物。该实施方式保证了测量信噪比和捕捉率,且调节过程为可逆转变,具有很好的实用价值,同时,可以高效的利用高功率激光辐照对纳米孔表面污染物进行分解和清理,方法简便,快速,保证了长时间的纳米孔使用寿命。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国空间技术研究院 |
发明人: |
张恒彬;贝晓敏;陈强 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810532160.9 |
公开号: |
CN108956725A |
代理机构: |
北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 |
代理人: |
郭伟红 |
分类号: |
G01N27/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/28 |
申请人地址: |
100194 北京市海淀区友谊路104号 |
主权项: |
1.一种基于激光和压强调制的固态纳米孔穿孔控制方法,其特征在于,所述方法包括:(1)进行固态纳米孔芯片的微纳制备;(2)对所述固态纳米孔芯片进行水下浸润,搭建集成共聚焦光学系统的纳米孔芯片测试系统;(3)采用激光辐照所述固态纳米孔芯片的固态膜表面,通过离子电流变化确定所述固态纳米孔芯片的纳米孔位置;(4)改变控制条件,对探测物穿孔进行控制,当所述纳米孔出现堵孔情况时,对所述纳米孔进行激光辐照以分解和清理污染物,以延长所述纳米孔的使用时间,其中,所述控制条件包括压强大小和方向、激光功率、电压大小和极性、电解液浓度。 |
所属类别: |
发明专利 |