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原文传递基于光热快速升温的磁悬浮热天平测量方法

专利名称：	基于光热快速升温的磁悬浮热天平测量方法
摘要：	本发明公开了一种基于光热快速升温的磁悬浮热天平测量方法，包括如下步骤：1)称取测量物料到反应池内；2)将反应池随磁悬浮浮子一起放到密闭容器内；3)通过磁悬浮装置使磁悬浮浮子悬浮在密闭容器中；4)向密闭容器内通入气体；5)通过激光位移监测组件测量磁悬浮浮子的实时位置，调节磁悬浮定子位置使磁悬浮浮子悬浮至测量零点位置；6)通过光热升温组件对反应池进行加热；7)调整光热升温组件位置使加热光束保持在反应池上；8)测量反应池内测量物料的温度；9)记录磁悬浮浮子位移量，转换得到质量。本发明通过测量磁悬浮浮子位移量，再转换为质量变化，减小了系统误差，实现控温条件下物料质量变化的高精度测量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	华中科技大学
发明人：	胡松;李寒剑;池寰瀛;向军;苏胜;汪一;许凯;邓增通;何立模;徐俊;韩亨达
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810321659.5
公开号：	CN108956361A
代理机构：	武汉开元知识产权代理有限公司 42104
代理人：	樊戎
分类号：	G01N5/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N5;G01N5/04
申请人地址：	430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
主权项：	1.一种基于光热快速升温的磁悬浮热天平测量方法，其特征在于：该方法采用如下的磁悬浮热天平对控温条件下测量物料质量变化进行测量：该磁悬浮热天平包括密闭容器(1)、反应池(601)、磁悬浮装置(6)、激光位移监测组件(10)、光热升温组件(9)和光热升温组件位移装置(903)；所述密闭容器(1)的上端设置有气体进口(2)，下端设置有可拆卸的盖板(12)，所述盖板(12)上设置有气体出口(11)；所述密闭容器(1)的内部设置有红外测温组件(5)，侧壁设置有分别由透明材料制成的位移监测窗口(102)和加热光束窗口(101)；所述光热升温组件(9)、激光位移监测组件(10)设置于密闭容器(1)周围，所述光热升温组件(9)与光热升温组件位移装置(903)相连，可通过后者进行位移；所述磁悬浮装置(6)包括磁悬浮浮子(603)和磁悬浮定子(7)，所述磁悬浮浮子(603)的上部设置有支撑架(602)；并且包括如下步骤：1)称取质量为g0的测量物料到反应池(601)内；2)拆下盖板(12)，将反应池(601)放置在磁悬浮浮子(603)的支撑架(602)上，再将磁悬浮浮子(603)放置在盖板(12)中心，将盖板(12)安装到密闭容器(1)上，调整磁悬浮定子(7)的位置使其位于安装后盖板(12)的中心正下方；3)启动磁悬浮装置(6)，待磁场稳定后，向上移动磁悬浮定子(7)，使磁悬浮浮子(603)悬浮在密闭容器(1)中；4)向密闭容器(1)内持续通入维持反应气氛所需的气体，气体从气体进口(2)进入，并从气体出口(11)排出，气体流速控制在实验所需的流速v；5)启动激光位移监测组件(10)，其所发出的监测激光穿过位移监测窗口(102)照射到磁悬浮浮子(603)的测量位置，对磁悬浮浮子(603)在密闭容器(1)内的实时位置进行测量，上下调节磁悬浮定子(7)位置使磁悬浮浮子(603)悬浮至激光位移监测组件(10)的测量零点位置；6)启动光热升温组件(9)，光热升温组件(9)的加热光源(901)发出加热光线，穿过加热光束窗口(101)汇聚到反应池(601)上，对反应池(601)进行加热；7)控温过程中物料的质量变化使磁悬浮浮子(603)产生位移，位移量由激光位移监测组件(10)进行实时测量，光热升温组件位移装置(903)根据位移量实时调整光热升温组件(9)位置使加热光束始终保持在反应池(601)上；8)通过红外测温组件(5)对反应池(601)内测量物料的实时温度进行测量，根据测量得到的实时温度，调整加热光源(901)的加热功率，实现测量物料的精确温控；9)记录控温过程中磁悬浮浮子(603)相对于测量零点的位移量，根据位移量转换得到对应的质量。
所属类别：	发明专利