专利名称: |
一种自动锁相模块及荧光寿命检测方法和装置 |
摘要: |
本发明公开了一种自动锁相模块及荧光寿命检测方法和装置,其中,用于时间分辨测量的自动锁相模块,包括光斩波器、移动平台、透镜,可以同时控制两条光路的通断状态,因而起到自动锁相的作用。该模块可以用于搭建时间分辨的光谱颊侧设备和成像设备,无需其它锁相控制和脉冲光源。基于这种模块级相关的装置,基于时间门控测量的荧光或者磷光寿命检测方法,可实现在同一时间段内对所有像素点的寿命进行测量,相对于单光子计数的扫描寿命成像,该方法用于寿命成像,具有更快的成像速度。此外,本方法不需要高速相机,可以用普通的图像传感器实现寿命成像,仪器结构相对简单、成本较低。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
华中科技大学 |
发明人: |
舒学文;朱泽策 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810388698.7 |
公开号: |
CN108627484A |
代理机构: |
华中科技大学专利中心 42201 |
代理人: |
李智;曹葆青 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
申请人地址: |
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |
主权项: |
1.一种自动锁相模块,其特征在于,包括光斩波器、移动平台和四个透镜;所述光斩波器固定在移动平台上,所述光斩波器的斩光盘与移动平台的移动方向平行;所述四个透镜均分为两组透镜,所述四个透镜均平行于斩光盘,所述两组透镜同轴放置在斩光盘的两侧,所述两组透镜分别将激发光路和探测光路聚焦于斩光盘;各透镜间的相对位置固定,但是独立于移动平台外,不随移动平台的移动而改变。 |
所属类别: |
发明专利 |