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一种基于次摆线进给轨迹的硬脆材料划痕分析方法
| 专利名称： | 一种基于次摆线进给轨迹的硬脆材料划痕分析方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于次摆线进给轨迹的硬脆材料划痕分析方法，首先，获取带有次摆线划痕的试件；其次，在试件的轨迹线分布区内做区域划分，划分规则为“点”、“线”、“面”的平面空间几何关系；再次，依据具体实验方案并结合相应的观测设备，参照轨迹线划分规则，提取“点”、“线”、“面”关键区域与材料损伤、材料去除机理相关的实验因素表征信息；最后，综合理论力学、断裂力学等相关理论，结合次摆线划痕轨迹关键区域设备采集信息，分析实验因素与材料损伤、材料去除机理之间的相互关系。该方法是一套完整、高效、逻辑关系紧密的分析方法，因此在硬脆材料去除机理研究方面具有极大科研价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 林彬;赵菲菲;隋天一;张晓峰;何远平;王安颖 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810498665.8 |
| 公开号： | CN108627386A |
| 代理机构： | 天津才智专利商标代理有限公司 12108 |
| 代理人： | 王晓红 |
| 分类号： | G01N3/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/00 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种基于次摆线进给轨迹的硬脆材料划痕分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，获取带有次摆线进给轨迹的试件：将带有磨粒的划头固定在刀头的端面上，磨粒的几何形状与大小、磨粒磨削刃角度、磨削刃半径、划头固定方位和疏密程度依据实验方案确定；将硬脆材料工件与测力仪装夹好后固定在机床工作台上，将压/划痕器安装在机床主轴上，根据实验要求，对磨削速度Vs和工件进给速度Vw赋予一定的值，在同时给定磨削速度和工件进给速度的情况下，通过调整磨削速度Vs与工件进给速度Vw的关系，实现刀具不同轨迹间距的无叠加划痕实验；步骤2，在试件的轨迹线上做划痕信息区域划分，划分规则为“点”、“线”、“面”的平面空间几何关系；步骤3，依据具体实验方案并结合观测设备，参照轨迹线划分规则，提取“点”、“线”、“面”关键区域与材料损伤、材料去除机理相关的实验因素表征信息；步骤4，综合理论力学、断裂力学相关理论，结合次摆线划痕轨迹关键区域设备采集信息，分析实验因素与材料损伤、材料去除机理之间的相互关系。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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