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一种岩矿样品光片的质量检测方法
| 专利名称： | 一种岩矿样品光片的质量检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种岩矿样品光片的质量检测方法，将制备好的岩矿样品光片水平放置于工作台上；在岩矿样品光片的表面选择多个不同测量部位，并使用光泽度仪对这些测量部位进行测量，记录每次的测量结果；计算出所有测量结果的算术平均值作为最终检测结果，并判断最终检测结果是否不小于80；如果最终结果不小于80，则所述岩矿样品光片质量合格，否则所述岩矿样品光片质量不合格。本发明不仅能够快捷、有效地对岩矿样品光片进行质量检测，准确判断出岩矿样品光片能否满足光学显微镜的观测需求，而且检测方法简单容易操作，无需依赖专业技术人员，从而有效解决了现有技术中岩矿样品光片质量检测流程繁琐、检测效率底下、依赖于专业技术人员等问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京矿冶科技集团有限公司 |
| 发明人： | 方明山;肖仪武;陈兴水 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810603483.2 |
| 公开号： | CN108956541A |
| 代理机构： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 |
| 代理人： | 郑立明;李闯 |
| 分类号： | G01N21/57(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/57 |
| 申请人地址： | 100160 北京市丰台区南四环西路188号总部基地十八区23号楼 |
| 主权项： | 1.一种岩矿样品光片的质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将制备好的岩矿样品光片水平放置于工作台上；步骤2、在所述岩矿样品光片的表面选择多个不同的测量部位，并使用光泽度仪对这些测量部位进行光泽度测量，记录每次的测量结果；步骤3、计算出所有测量结果的算术平均值作为最终检测结果，并判断最终检测结果是否大于或等于80；如果最终检测结果大于或等于80，则所述岩矿样品光片质量合格，否则，所述岩矿样品光片质量不合格。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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